[发明专利]固态硬盘控制电路在审
| 申请号： | 201610065328.0 | 申请日： | 2016-01-29 |
| 公开（公告）号： | CN107025941A | 公开（公告）日： | 2017-08-08 |
| 发明（设计）人： | 陈彦仲;陈政宇;陈双喜 | 申请（专利权）人： | 瑞昱半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C16/34 | 分类号： | G11C16/34;G11C29/00 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司11240 | 代理人： | 梁丽超,刘冀 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 固态 硬盘 控制电路 | ||
1.一种用于一固态硬盘装置(100)中的固态硬盘控制电路(140)，其中，该固态硬盘装置(100)包含一固态硬盘(110)以及一通信接口(120)，该固态硬盘控制电路(140)包含：
一读写电路(141)，用于耦接该固态硬盘(110)；以及
一闪存控制电路(143)，耦接于该读写电路(141)并用于耦接该通信接口(120)，且设置成进行以下运作：
(A1)通过该读写电路(141)读取该固态硬盘(110)的一第一数据区块(111)中的数据，并对读出的数据进行错误检查与校正；
(B1)若发现从该第一数据区块(111)读出的数据具有无法校正的错误，则搬移该第一数据区块(111)中的数据；
(C1)通过该读写电路(141)抹除该第一数据区块(111)；
(D1)通过该读写电路(141)将测试数据写入该第一数据区块(111)；
(E1)等待一预定时间后，通过该读写电路(141)读取该第一数据区块(111)中的测试数据，并对读出的数据进行错误检查与校正；
(F1)记录该第一数据区块(111)的数据错误次数；以及
(G1)根据该第一数据区块(111)的数据错误次数，判断该第一数据区块(111)的可再使用性。
2.如权利要求1所述的固态硬盘控制电路(140)，其中，该闪存控制电路(143)在进行流程(G1)前，要至少重复进行流程(C1)至(F1)达一预定次数。
3.如权利要求2所述的固态硬盘控制电路(140)，其中，该预定次数为三次。
4.如权利要求2所述的固态硬盘控制电路(140)，其中，该预定次数是依据该第一数据区块(111)的抹除次数而决定。
5.如权利要求1所述的固态硬盘控制电路(140)，其中，该闪存控制电路(143)在流程(D1)中是通过该读写电路(141)，以一第一写入模式将测试数据写入该第一数据区块(111)，且该第一写入模式与流程(A1)中所读取的数据的写入模式相同。
6.如权利要求5所述的固态硬盘控制电路(140)，其中，该闪存控制电路(143)另设置成进行以下运作：
(A2)通过该读写电路(141)读取该固态硬盘(110)的一第二数据区块(113)中的数据，并对读出的数据进行错误检查与校正；
(B2)若发现从该第二数据区块(113)读出的数据具有无法校正的错误，则搬移该第二数据区块(113)中的数据；
(C2)通过该读写电路(141)抹除该第二数据区块(113)；
(D2)通过该读写电路(141)以一第二写入模式将测试数据写入该第二数据区块(113)；
(E2)等待该预定时间后，通过该读写电路(141)读取该第二数据区块(113)中的测试数据，并对读出的数据进行错误检查与校正；
(F2)记录该第二数据区块(113)的数据错误次数；以及
(G2)根据该第二数据区块(113)的数据错误次数，判断该第二数据区块(113)的可再使用性；
其中，该第二写入模式与流程(A2)中所读取的数据的写入模式相同，但与该第一写入模式不同。
7.如权利要求1所述的固态硬盘控制电路(140)，其中，流程(E1)中的该预定时间长度至少为一分钟。
8.如权利要求1所述的固态硬盘控制电路(140)，其中，流程(E1)中的该预定时间长度是依据温度或该第一数据区块(111)的抹除次数动态地被设置。
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