[发明专利]一种定向X射线检测垂直透照的布置方法

说明书

本发明涉及一种定向X射线检测透照的方法，方案为：步骤1：选择定向X射线机与待检工件；步骤2：安装X射线机，将定向射线机产生的X光束以40°锥角放射到空间，以布照焦距为半经形成球锥形透照场，每个待检工件透照区中心相切于球面，形成某一线束垂直指向待检工件透照区中心，与球面的任一确定点相切后，就会有唯一线束与工件垂直，单个工件平面与不超过13°照射角的射线束构成锥形透照场的可利用区，众多工件采用这种方法，最终形成一个射线源、众多锥形透照场；步骤3：对众多锥形透照场以垂直距离为焦距进行布照，使得射线束对所有布照工件进行全覆盖；然后垂直校准，进行布照与透照工艺；本发明高效率地完成定向X射线检测作业。

技术领域

本发明涉及一种定向X射线检测透照的布置方法，具体涉及一种应用于航天、航空、特种设备等的无损检测领域。

背景技术

由于定向射线机产生的X光束以40°锥角放射到空间，工件(或焊缝)垂直于中心线束布置，布置平面与光束空间形成X射线圆锥形透照场，如图1所示。

按照定向射线检测行业标准要求，透照布置要求射线束中心垂直指向透照区中心，照射角不超过13°，在圆锥形透照场内圆锥角为26°的小锥形透照场为符合质量要求的区域，称之为可利用区，在可利用区内工件布置形成实际利用区。这样出现的透照过程是实际利用区的流水作业。从透照场使用状况来看，实际利用区占很小比例，部分可利用区和未有效利用区占很大比例。从透照剂量利用率来看，照射角限制越小，透照剂量利用率越低。采用圆锥形透照场进行布照，由于多次布置检测，质量稳定性差，效率低下。

根据定向X射线透照布置情况来看，圆锥形透照场布照工件单一。即使按照工艺参数检测，也会出现底片质量一致性较差。圆锥形透照场的布照剂量利用率偏低，一般仅为22％左右。透照布置不足之处有：

a.受透照射线束中心一般应垂直指向透照区中心、并应与工件表面法线重合的限制，只能采用单一透照布置；

b.照射角(也称裂纹检测角)限制了在整个锥形区进行布照，导致未有效利用区和部分可利用区未能实际利用，该区域的射线作为有害射线而存在；

c.采用大焦距布照，可线性增加允许的透照长度，但需按照平方倍数增加透照时间，导致检测时间延长；

d.流水透照作业致使布照参数、透照参数及暗室处理参数与工艺参数的一致性出现波动，导致底片质量黑度波动范围大，甚至出现返工现象。

即按照以上背景技术难以高效率地完成定向X射线检测作业。

发明内容

本发明克服现有技术的不足，所要解决的是提供一种高效率地完成定向X射线检测作业。

为解决上述技术问题，本发明所采用的技术方案为：

一种定向X射线检测垂直透照的布置方法，包括如下步骤：

步骤1：选择定向X射线机与待检工件的规格以及各类规格工件数量；

步骤2：安装X射线机，将定向射线机产生的X光束以40°锥角放射到空间，以布照焦距为半经形成球锥形透照场，每个待检工件透照区中心相切于球面，自然就会形成某一线束垂直指向待检工件的透照区中心，然后与球锥形球面的任一确定点相切后，就会有唯一线束与工件垂直，最后单个工件平面与不超过13°照射角的射线束构成球锥形透照场的可利用区，众多工件采用这种方法垂直而共用一个射线源，最终形成一个射线源、众多锥形透照场；

步骤3：对众多锥形透照场进行布照，并以垂直距离为焦距，使得射线束对所有布照工件进行全覆盖，然后垂直校准，进行布照工艺与透照工艺。

优选地，可利用区为整个球锥形透照场，且所述可利用区内可以布照待检工件形成众多个锥形透照场。

优选地，射线布照的技术要求见表1。

表1布照的技术要求