[发明专利]液晶面板点灯测试时的探针定位方法及系统

说明书

技术领域

本发明属于液晶面板测试技术领域，具体涉及一种液晶面板点灯测试时的探针定位方法及系统。

背景技术

液晶面板在正式出厂前，均需要进行点灯测试，从而检测液晶面板是否存在坏点。传统技术中，如图1所示，为液晶面板点灯测试装置与液晶面板的连接布置图；在图1中，1代表液晶面板；2代表液晶面板点灯测试装置；如图2所示，为图1中A区域的剖面图；从图2可以看出，液晶面板点灯测试装置配置有若干个测试接口3，液晶面板印刷有多条测试线；在每个测试接口和测试线之间设置有探针4，通过探针使测试接口和测试线之间实现电路连接，从而最终通过判断测试线的亮灭情况检测液晶面板是否存在坏点。

然而，在实现本发明的过程中，发明人发现，现有技术至少存在以下问题：

当使用时间较长时，容易出现探针左右晃动的情况，严重时，探针的一端甚至从测试接口中完全脱离，出现图3所示的情况，从而导致测试接口和测试线之间不具有电连接，无法进行有效的液晶面板点灯测试。

发明内容

针对现有技术存在的缺陷，本发明提供一种液晶面板点灯测试时的探针定位方法及系统，可有效解决上述问题。

本发明采用的技术方案如下：

本发明提供一种液晶面板点灯测试时的探针定位方法，包括以下步骤：

步骤1，在液晶面板的内部印刷有n根测试线，在液晶面板的侧面设置有m个测试插槽；将n根测试线划分为n/m组，每组测试线的末端均固定到对应的一个测试插槽中；其中，n和m均为自然数；

步骤2，液晶面板点灯测试装置配置有m个测试接口，将m个测试接口与m个测试插槽相对设置后，在m个测试接口与m个测试插槽之间设置一层保护膜；所述保护膜开设有m个固定通孔；该固定通孔与探针的外径相匹配；

还配置有m个探针；每个所述探针的一端插入到一个测试插槽的内部，所述探针的另一端穿过所述保护膜的固定通孔后，插入到一个测试接口的内部，由此实现通过探针将测试接口和对应的测试插槽的电连接，并且，通过保护膜定位探针。

优选的，所述保护膜为绝缘材质。

优选的，所述保护膜被热塑固定在所述液晶面板点灯测试装置和所述液晶面板之间。

本发明还提供一种液晶面板点灯测试时的探针定位系统，包括液晶面板、液晶面板点灯测试装置、探针以及保护膜；

其中，所述液晶面板的内部印刷有n根测试线，在液晶面板的侧面设置有m个测试插槽；将n根测试线划分为n/m组，每组测试线的末端均固定到对应的一个测试插槽中；其中，n和m均为自然数；

所述液晶面板点灯测试装置配置有m个测试接口，将m个测试接口与m个测试插槽相对设置后，在m个测试接口与m个测试插槽之间设置一层所述保护膜；所述保护膜开设有m个固定通孔；该固定通孔与探针的外径相匹配；

所述探针的配置数量同样为m个；每个所述探针的一端插入到一个测试插槽的内部，所述探针的另一端穿过所述保护膜的固定通孔后，插入到一个测试接口的内部，由此实现通过探针将测试接口和对应的测试插槽的电连接，并且，通过保护膜定位探针。

优选的，所述保护膜为绝缘材质。

优选的，所述保护膜被热塑固定在所述液晶面板点灯测试装置和所述液晶面板之间。

本发明提供的液晶面板点灯测试时的探针定位方法及系统具有以下优点：

(1)通过设置保护膜，可保证长时间使用时探针稳定固定在测试插槽和测试接口之间，不会发生位置偏移以及脱落现象，从而保证测试插槽和测试接口之间长期稳定的电性连接，保证测试质量；

(2)还具有结构简单、制造工艺简单以及成本低的优点，可广泛推广使用。

附图说明

图1为现有技术提供的液晶面板点灯测试装置与液晶面板的连接布置图；

图2为图1中A区域的剖面图；

图3为现有技术中长时间使用后探针出现晃动或脱离状态时的结构图；

图4为本发明提供的安装保护膜后探针的布置示意图。

具体实施方式

为了使本发明所解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

结合图4，本发明提供一种液晶面板点灯测试时的探针定位方法，包括以下步骤：