[发明专利]一种适用同一天线的大批量有源测试方法

说明书

本发明涉及一种适用同一天线的大批量有源测试方法，利用Satimo测试系统实施TRP测试及TIS测试，(1)将移动终端开机放置到Satimo测试系统的暗室转台固定位置；(2)在所有频段按常规TRP/TIS测试进行，实现对一部手机进行全方向性能测试，并实时记录相应数据；(3)经过对一部手机进行全方向性能测试，获得最佳方向角度值；(4)以最佳方向角度的值作为恒定参数组对同种天线型的手机依次进行测量，以此判断验证同种天线的手机性能的一致性；(5)测试完后用Satenv计算软件导出并输出测试结果。以最佳方向角度的值来判断同种天线型试的手机性能的一致性，将原有测试时长，用此方法有效的减少在测试所花的时间，在原有测试环境的基础上提高了测试效率，解决了测试资源上的压力。

[技术领域]

本发明属于天线检测测试方法技术领域，具体涉及有源OTA测试技术。

[背景技术]

目前随着我国通讯行业飞速发展，消费者对手机的需求越来越大，各大手机厂商对手机的性能测试也越来越多及手机的测试频段范围也越来越广，各种手机的批量性入库测试及认证前的一致性测试增多，测试频段多、任务重、时间长，仅有的暗室无法保障大量的测试。

[发明内容]

为了克服现有的测试资源紧张，对大批量手机测试的测试方法进行优化，针对同种天线型式的手机进行批量测试，可在短时间内验证这批手机的一致性。

为实现上述目的，设计一种适用同一天线的大批量有源测试方法，其特征在于，利用Satimo测试系统实施TRP测试及TIS测试，包括以下步骤：

(1)将移动终端开机放置到Satimo测试系统的暗室转台固定位置，通过暗室测量天线连接到基站仿真器；基站仿真器的发射信号通过暗室测量天线发送给移动终端，移动终端的接收系统接收所述基站仿真器的发射信号并解码，基站仿真器的工作信道设为任意一个待测信道；

(2)将移动终端依次运动到不同的转台方位角Phi角度和Theta角度，通过切换环天线，来达到Theta的角度运动；每个Theta/Phi角度上，切换测量天线水平极化和垂直极化，来实现对一部手机进行全方向性能 测试，并实时记录相应数据；

(3)经过对一部手机进行全方向性能测试，获得最佳方向角度值；

(4)测试参数恒定设置为最佳方向角度值，以最佳方向角度的值作为恒定参数组对同种天线型的手机依次进行测量，以此判断验证同种天线的手机性能的一致性；

(5)测试完后用Satenv计算软件导出并输出测试结果。

快速测试具体步骤如下：

(1)测试TRP时，通过外部输入设备向计算机控制模块输入功率扫描指令；测试TIS时，通过外部输入设备向计算机控制模块输入灵敏度扫描指定；

(2)计算机控制模块将所述功率扫描指令或灵敏度扫描指定通过信号线传输至基站仿真器仪表内的信号接收/发射端，经由基站仿真器仪表内的信号接收/发射端传输至暗室转台的通讯天线及测试天线，进行最佳方向角度测试；

(3)测试完成后，基站仿真器仪表内的信号接收/发射端反馈至计算机计算存储模块，测试完成。

satenv数据导出步骤如下：

(1)基站仿真器仪表内的信号接收/发射端反馈至计算机计算存储模块后，计算机计算存储模块内生成测试结果信号；

(2)弹出选项，选择导出指令，导出所述测试结果。

本测试方法的有益效果为:通过在天线型式一样的情况，天线方辐射图基本一致，我们对最佳方向角度进行测试，以最佳方向角度的值来判断同种天线型试的手机性能的一致性，将原有测试时长，用此方法有效的减少在测试所花的时间，在原有测试环境的基础上提高了测试效率，解决了测试资源上的压力。