[发明专利]基于低秩矩阵近似的光声显微成像方法及装置在审

专利信息
申请号: 201610034678.0 申请日: 2016-01-19
公开(公告)号: CN105719325A 公开(公告)日: 2016-06-29
发明(设计)人: 孙明健;李百祺;刘婷;王明华;宋之豪;冯乃章 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学(威海)
主分类号: G06T11/00 分类号: G06T11/00
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 李相雨
地址: 264209 山*** 国省代码: 山东;37
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 基于 矩阵 似的 显微 成像 方法 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及光声显微成像领域,尤其涉及基于低秩矩阵近似的光声显微成像方法及装置。

背景技术

光声成像技术是近年发展起来的一种非入侵式的新型无损医学影像技术,有效结合纯超声成像的高穿透性和纯光学成像的高对比度两者优点。它包括三种主要成像方式:光声显微成像技术(PhotoacousticMicroscopy,PAM)、光声层析成像(PhotoacousicComputedTomography,PACT)和光声内窥成像(PhotoacousicEndoscopy,PAE)。其中,光学显微镜成像技术PAM采用逐点扫描的方式获得图像,因而它不需要特定的图像重构算法。PAM又可以分为:光学分辨率显微成像技术(Optical-ResolutionPhotoacousicMicroscopy,OR-PAM)和声学分辨率显微镜成像技术(Acoustical-ResolutionPhotoacousicMicroscopy,AR-PAM)。

然而,现有技术的问题在于,对于OR-PAM,增加光学数值孔径,虽然可以提高横向分辨率,但是成像深度会有所减小;对于AR-PAM,分辨率决定于超声换能器的带宽以及中心频率,超声换能器性能越高分辨率越高,所以往往通过改进成像系统或者方法来提高分辨率,但是成本又会增加。因此现有技术对成像区域进行逐点扫描的方式所需时间长,并且成本高。

发明内容

针对现有技术的缺陷,本发明提出了解决上述技术问题的基于低秩矩阵近似的光声显微成像方法及装置,可保证光声图像分辨率不严重损失的情况下,快速采集光声成像数据。

第一方面,本发明提供基于低秩矩阵近似的光声显微成像方法,包括:

根据预设采样比,确定包含0元素和1元素的采样矩阵,所述采样矩阵中1元素所占的比例为所述预设采样比;

根据所述采样矩阵,对待成像区域进行光声显微数据采集,得到光声显微数据矩阵;

根据所述光声显微数据矩阵,建立图像恢复模型;

根据低秩矩阵近似算法,求解所述图像恢复模型,得到恢复后的图像,以实现对所述待成像区域的光声显微成像。

优选的,所述低秩矩阵近似算法为GoDec算法。

优选的,所述图像恢复模型为:

minrank(X)

s.t.Xi,j=YΩi,j,ifΩ(i,j)=1

其中,为恢复后的图像矩阵,rank(X)为矩阵X的秩,Ω为压缩采样模板矩阵,YΩ为m×n的光声显微数据矩阵。

优选的,所述根据GoDec算法,求解所述图像恢复模型,得到恢复后的图像,以实现对所述待成像区域的光声显微成像,具体为:

根据GoDec算法,求解所述图像恢复模型,对待成像区域未采样点进行估计,得到未采样点估计矩阵;

根据所述光声显微数据矩阵和未采样点估计矩阵,得到恢复后的图像,以实现对所述待成像区域的光声显微成像。

第二方面,本发明提供基于低秩矩阵近似的光声显微成像装置,包括:

确定单元,用于根据预设采样比,确定包含0元素和1元素的采样矩阵,所述采样矩阵中1元素所占的比例为所述预设采样比;

采集单元,用于根据所述采样矩阵,对待成像区域进行光声显微数据采集,得到光声显微数据矩阵;

建模单元,用于根据所述光声显微数据矩阵,建立图像恢复模型;

恢复单元,用于根据低秩矩阵近似算法,求解所述图像恢复模型,得到恢复后的图像,以实现对所述待成像区域的光声显微成像。

优选的,所述低秩矩阵近似算法为GoDec算法。

优选的,所述图像恢复模型为:

minrank(X)

s.t.Xi,j=YΩi,j,ifΩ(i,j)=1

其中,为恢复后的图像矩阵,rank(X)为矩阵X的秩,Ω为压缩采样模板矩阵,YΩ为m×n的光声显微数据矩阵。

优选的,所述恢复单元具体用于,根据GoDec算法,求解所述图像恢复模型,对待成像区域未采样点进行估计,得到未采样点估计矩阵;根据所述光声显微数据矩阵和未采样点估计矩阵,得到恢复后的图像,以实现对所述待成像区域的光声显微成像。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于哈尔滨工业大学(威海),未经哈尔滨工业大学(威海)许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610034678.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top