[发明专利]一种非接触智能卡Inlay下载测试装置及其测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及集成电路芯片测试技术领域，尤其涉及非接触智能卡Inlay下载测试装置及其测试方法。

背景技术

现在，智能卡以其迅猛的发展，逐渐的深入到多个应用领域，非接触智能卡的出现给应用带来了极大的便利，目前非接触智能卡已经迅速的应用到公交、金融、卫生等各个领域。随着对非接触智能卡的需求量的迅猛增长，要求智能卡的下载测试等生产领域的设备必须操作简单、生产高效。

目前，基于非接触智能卡Inlay，（Inlay为智能卡内核层，即芯片在PVC材料封装后，加工中未彩印前的状态）；Inlay下载测试装置并没有统一的标准，主要是由非接触智能卡封装厂家自行开发、使用，操作的难易程度、下载测试效率和下载记录可追溯性等良莠不齐等技术问题，特别地，在非接触智能卡芯片测试领域，Inlay下载测试结果记录对生产和后续分析提供数据保证，Inlay下载测试装置及其测试方法的高效测试和下载，为生产运作提供有效保证。

发明内容

针对上述现有技术中存在的不足，本发明的目的是提供一种非接触智能卡Inlay下载测试装置及其测试方法，该测试装置及其测试方法能够简单、高效地完成智能卡下载和测试。

本发明提供一种非接触智能卡Inlay下载测试装置，为阵列下载测试单元，包括主控芯片(1)、读卡头芯片(2)、天线板(3)、带插头的USB电缆(4)、USB集线器(5)和电源供给设备(6)， 所述的读卡头芯片(2)的控制端口与主要控制芯片(1)的相应控制端口相连接，读卡头芯片(2)输出端口与天线板(3)的天线引脚连接；所述USB电缆(4)的插头与计算机的USB集线器下行端口连接，USB电缆(4)的另一端连接到主要控制芯片(1)的USB上行端口；所述电源供给设备(6)的输入端口与USB集线器相连接，下行的USB输出端口与主要控制芯片(1)的电源输入端口连接。

优选地，所述非接触智能卡Inlay下载测试装置的控制程序支持CCID设备(USB Chip/Smart Card Interface Devices-USB芯片智能卡接口设备)，并支持T=1 的APDU命令，其中，T=1协议为ISO/IEC 7816协议中所定义的智能卡通讯协议，所述T=1协议的APDU控制指令流程如下：

1）非接触智能卡Inlay下载测试装置开场指令，即读卡头芯片打开调制载波指令：

Inlay下载测试装置接收到T=1协议的 APDU命令，用于操作下载测试装置开场；

2）获取非接触智能卡获取ATS指令：

Inlay下载测试装置接到发给智能卡的指令，用于获取非接触智能卡ATS指令；

3）Inlay下载测试装置发送给智能卡APDU控制指令；

4）Inlay下载测试装置用于关场指令，即读卡头关掉调制载波的指令；

5）用于Inlay下载测试装置上控制指示结果的指示灯。

优选地，所述非接触智能卡Inlay下载测试装置可并行下载。

优选地，所述非接触智能卡Inlay下载测试装置可并行测试。

优选地，所述非接触智能卡Inlay下载测试装置支持T=1协议及其扩展协议。

优选地，，所述非接触智能卡Inlay下载测试装置中，带插头的USB电缆支持速率至少为USB规范定义的全速速率，其机械、电气等特性符合USB规范所定义的相关特性要求。

本发明提供一种非接触智能卡Inlay下载测试方法，其具体操作流程步骤如下：

1）将电源供给设备(6)与USB集线器(5)连接，Inlay下载测试装置上的独立单元USB接口和USB集线器连接；

2）将USB集线器与工作计算机连接，工作计算机通过USB集线器将完成与主要控制芯片(1)的数据交互，使Inlay下载测试装置识别为所配置个数的CCID设备；

3）启动工作计算机上的Inlay下载测试装置控制程序，检查Inlay下载测试装置是否成功识别，并提示识别结果；

4）将待下载测试的Inlay放置在天线板(3)上；

5） 该装置接收工作计算机所下发的T=1协议的APDU命令；

6） 该装置接收APDU控制指令，该控制指令传送到Inlay，用于Inlay下载和测试；

7） Inlay下载测试完成后，根据工作计算机所发指令，指示灯指示Inlay中卡片的下载测试结果；

8）在Inlay下载测试的APDU命令脚本中，可重复进行上述步骤5）至步骤7），实现Inlay下载测试。