[发明专利]使用输入设备将输入设备校准到显示器有效
申请号: | 201580074294.5 | 申请日: | 2015-01-30 |
公开(公告)号: | CN107209596B | 公开(公告)日: | 2020-12-08 |
发明(设计)人: | J·D·巴西特;F·C·托马斯三世;L·M·多明戈 | 申请(专利权)人: | 惠普发展公司;有限责任合伙企业 |
主分类号: | G06F3/041 | 分类号: | G06F3/041 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 林金朝;王英 |
地址: | 美国德*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 使用 输入 设备 校准 显示器 | ||
1.一种用于校准到显示器的装置,包括:
位置检测器,其通过以下方式来确定计算设备的所述显示器的定位编码膜相对于所述显示器的像素阵列的几何位置的几何位置:
确定与所述装置相对于所述定位编码膜的位置对应的所述定位编码膜的第一坐标;以及
确定与所述装置相对于所述像素阵列的位置对应的所述像素阵列的第二坐标;
偏移计算器,其确定所述定位编码膜的几何位置与所述像素阵列的几何位置之间的偏移,其中,根据所述第一坐标和所述第二坐标之间的第二偏移来确定所述偏移;以及
接口管理器,其基于所述偏移计算校准变换,所述校准变换由所述装置使用以控制所述计算设备,
其中,多个定位点不均匀地分布在整个所述定位编码膜上,
其中,对所述第二坐标的所述确定是基于参考像素执行的,并且包括确定与所述参考像素的距离和方向。
2.如权利要求1所限定的装置,其中,所述装置是数字笔。
3.如权利要求1所限定的装置,还包括:
传感器,其捕获所述定位编码膜的定位点的第一图像并捕获所述像素阵列中的所述参考像素的第二图像;
膜图案分析器,其比较所述定位点的所述第一图像与所述定位编码膜的定位编码图案以确定所述第一坐标;以及
像素分析器,其确定所述参考像素在第二所捕获的图像内的位置以确定所述第二坐标。
4.如权利要求1所限定的装置,还包括传感器,所述传感器使用第一设置来检测所述定位编码膜的定位点并使用第二设置来使用延长的图像整合时间来检测所述像素阵列中的所述参考像素。
5.如权利要求4所限定的装置,其中,所述第一设置包括使用所述传感器的红外滤波器和所述传感器的红外发射器。
6.如权利要求4所限定的装置,其中,所述第二设置包括禁用所述传感器的红外滤波器以及检测来自所述参考像素的像素发射的较长可见波长光。
7.如权利要求1所限定的装置,还包括图像处理器,所述图像处理器使用第一设置来检测图像内的所述定位编码膜的定位点,并使用第二设置来检测所述图像中的所述像素阵列中的所述参考像素。
8.如权利要求1所限定的装置,其中,所述定位编码膜是可移除的并且位于所述显示器的外表面上。
9.一种用于将输入设备校准到显示器方法,包括:
基于定位编码膜的第一定位点来确定与所述输入设备相对于计算设备的所述显示器的所述定位编码膜的位置对应的所述定位编码膜的第一坐标;
基于所述显示器的第一参考像素来确定与所述输入设备相对于所述显示器的像素阵列的位置对应的所述像素阵列的第二坐标;
测量所述定位编码膜的所述第一坐标与所述像素阵列的所述第二坐标之间的第一偏移;以及
基于所述第一偏移来计算校准变换以控制所述计算设备,
其中,所述第一定位点不均匀地分布在整个所述定位编码膜上,
其中,对所述第二坐标的所述确定包括确定与所述第一参考像素的距离和方向。
10.如权利要求9所限定的方法,还包括基于所述校准变换使用所述输入设备来控制所述计算设备的方面。
11.如权利要求9所限定的方法,还包括:
比较所述定位编码膜的图像与所述定位编码膜的所存储的定位编码图案以确定所述第一坐标,所述图像由所述输入设备的传感器捕获。
12.如权利要求9所限定的方法,还包括:
确定参考像素在所述像素阵列的图像中的位置以确定所述第二坐标,所述图像由所述输入设备的传感器捕获。
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