[发明专利]低成本的数字式PET设计

说明书

一种利用缩减的晶体设计图案的诊断成像系统，用于对受试者成像并收集事件数据。缩减的晶体设计图案包括填充晶体位置和空置晶体位置。处理器通过选择包括最近邻的填充晶体位置的窗口，负责空置晶体位置。最近邻的填充晶体位置包括事件数据，所述事件数据被处理器求平均并赋予空置晶体位置。基于距离或事件强度的加权平均也包括在内。

技术领域和背景技术

下文总体上涉及射电发射成像。它与正电子发射断层成像(PET)相结合获得了具体的应用，并将具体参照PET进行描述。数字式PET扫描器在成像质量方面具有许多优点，但设计数字式PET扫描器是昂贵的。例如，在一种设计中，具有超过30,000个晶体用以构建例示性的PET扫描器。

晶体成本是整个PET系统成本的重要部分，且缩减晶体成本将使PET扫描器对于不太富裕的医疗机构来说更能负担的起，比如发展中国家的那些医疗机构。然而，由于每个晶体对应一个探测器像素，所以缩减晶体数量导致PET探测器的分辨率相应降低，且因此图像分辨率降低。

US 2013/016805 A1公开了一种数据采集和/或图像处理方法和系统，用于采集和/或处理稀疏信道的数据。稀疏信道被实施在相比当前可用的成像系统的节距来说在至少一个预定信道方向上在相邻探测器单元之间具有更宽预定节距的数据采集系统中。稀疏信道还被限定成包括各种成像模态，包括CT、正电子发射断层成像(PET)和正电子发射断层成像-计算机断层成像(PET/CT)。稀疏信道的数据通过稀疏信道数据采集系统来采集，并根据预定的迭代重建技术从稀疏信道数据重建图像。

JP2002-197450A公开了一种可靠的成像设备和方法，其在具有缺陷像素时，通过缩短用于校正计算的时间并改进校正精度从，以校正对应于缺陷像素的像素信息。该单元设置有校正工具，用于在指定像素中存在功能缺陷时，相对于所获得的图像信息校正并输出对应于缺陷像素的位置的像素信息。这意味着根据缺陷像素各自孤立的第一情形和多个缺陷像素在成像装置中彼此关联的第二情形，通过不同的校正方法来校正像素信息。

发明内容

下文提供了一种克服这些和其他问题的新型和改进的系统和方法。

根据一个方面，一种核成像系统，包括辐射探测器，所述辐射探测器具有由探测器像素位置形成的规则阵列且包括：占据所述规则阵列的探测器像素位置中的一些的辐射探测器元件，和所述规则阵列的未被辐射探测器元件占据的空置探测器像素位置。所述系统进一步包括一个或多个处理器，所述一个或多个处理器被构造成通过如下操作处理使用所述辐射探测器对受试者采集的辐射事件数据，以生成所述受试者的重建图像：基于由占据所述规则阵列的毗邻所述空置探测器像素位置的探测器像素位置的辐射探测器元件对所述受试者采集的辐射事件数据，估算用于所述空置探测器像素位置的辐射事件数据；以及重建包括使用所述辐射探测器对所述受试者采集的辐射事件数据和用于所述空置探测器像素位置的所估算的辐射事件数据的数据集，以生成所述受试者的重建图像。

根据另一方面，一种成像方法，包括：通过本文中所公开的核成像系统，使用布置在成像区域周围的至少一个晶体模块，采集在所述成像区域内的受试者的辐射事件数据，所述模块具有闪烁体晶体，所述闪烁体晶体限定具有一些缺失的探测器像素的由探测器像素形成的规则阵列；基于由占据所述规则阵列的毗邻所述空置探测器像素位置的探测器像素位置的辐射探测器元件(22)对所述受试者采集的辐射事件数据，估算用于所述空置探测器像素位置的辐射事件数据；以及重建包括使用所述辐射探测器对所述受试者采集的辐射事件数据和用于所述空置探测器像素位置的所估算的辐射事件数据的数据集，以生成所述受试者的重建图像。

一个优势在于成像系统的成本降低。

另一个优势在于成像质量的损失较小。

本领域普通技术人员在阅读和理解下面的详细描述后将认识到本发明的一些其他优势。

附图说明