[发明专利]低成本的数字式PET设计有效

专利信息
申请号: 201580070640.2 申请日: 2015-12-09
公开(公告)号: CN107110980B 公开(公告)日: 2020-05-05
发明(设计)人: S·德维韦迪;V·R·哈贾里 申请(专利权)人: 皇家飞利浦有限公司
主分类号: G01T1/161 分类号: G01T1/161;G01T1/29
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 蔡洪贵
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 低成本 数字式 pet 设计
【权利要求书】:

1.一种正电子发射断层(PET)成像系统,包括:

辐射探测器(17),所述辐射探测器具有由探测器像素位置形成的规则阵列且包括:

辐射探测器元件(22),所述辐射探测器元件占据所述规则阵列的探测器像素位置中的一些,和

所述规则阵列的未被辐射探测器元件占据的空置探测器像素位置;

所述正电子发射断层(PET)成像系统还包括一个或多个处理器(46),所述一个或多个处理器被构造成通过如下操作处理使用所述辐射探测器(17)对受试者采集的辐射事件数据,以生成所述受试者的重建图像:

基于由占据所述规则阵列的毗邻所述空置探测器像素位置的探测器像素位置的辐射探测器元件(22)对所述受试者采集的辐射事件数据,估算用于所述空置探测器像素位置的辐射事件数据,其中对于每个空置探测器像素位置采集响应线(LOR),针对限定在空置探测器像素位置和探测器像素位置之间的每个响应线(LOR)执行求平均;以及

重建包括使用所述辐射探测器对所述受试者采集的辐射事件数据和用于所述空置探测器像素位置的所估算的辐射事件数据的数据集,以生成所述受试者的重建图像。

2.根据权利要求1所述的正电子发射断层(PET)成像系统,其中,所述估算包括:

针对每个响应线(LOR),基于由占据位于在所述空置探测器像素位置周围限定的窗口(312、314、316、318、319、320、322、324、326)内的探测器像素位置的辐射探测器元件(22)对所述受试者采集的辐射事件数据,估算用于每个空置探测器像素位置的辐射事件数据。

3.根据权利要求2所述的正电子发射断层(PET)成像系统,其中,所述估算包括:

根据与所述空置探测器像素位置相距的距离,对由占据位于在所述空置探测器像素位置周围限定的窗口内的探测器像素位置的辐射探测器元件采集的事件数据进行加权。

4.根据权利要求2-3中的任一项所述的正电子发射断层(PET)成像系统,其中,由探测器像素位置形成的所述规则阵列是具有由探测器像素位置形成的行和列的笛卡尔阵列,且在所述空置探测器像素位置周围限定的窗口是3x3、3x1、1x3或2x2的晶体位置或对角相邻的晶体位置中的一种。

5.根据权利要求1-3中的任一项所述的正电子发射断层(PET)成像系统,其中,由探测器像素位置形成的所述规则阵列是具有由探测器像素位置形成的行和列的笛卡尔阵列,且所述规则阵列具有介于25%-75%之间的空置探测器像素位置。

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