[发明专利]核壳粒子、核壳粒子的制造方法及薄膜有效

专利信息
申请号: 201580060597.1 申请日: 2015-11-18
公开(公告)号: CN107074544B 公开(公告)日: 2020-05-05
发明(设计)人: 小野雅司 申请(专利权)人: 富士胶片株式会社
主分类号: C01B25/08 分类号: C01B25/08;C01G9/08;C09K11/08;B82Y20/00;B82Y40/00
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 庞东成;张志楠
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 粒子 制造 方法 薄膜
【权利要求书】:

1.一种核壳粒子,其具有含有III族元素及V族元素的核、与覆盖所述核表面的至少一部分的含有II族元素及VI族元素的壳,所述核壳粒子中,

通过X射线光电子能谱分析所测定的所述II族元素的峰值强度比相对于所述III族元素的峰值强度比的比例为0.25以上0.41以下,

通过X射线光电子能谱分析所测定的所述VI族元素的峰值强度比相对于所述III族元素的峰值强度比的比例为0.80以上,

所述III族元素为In、Al、Ga中的任一种元素;所述V族元素为P、N、As中的任一种元素;所述II族元素为Zn、Cd、Mg中的任一种元素;所述VI族元素为S、O、Se、Te中的任一种元素。

2.根据权利要求1所述的核壳粒子,其中,

所述III族元素为In,所述V族元素为P、N及As中的任一种元素。

3.根据权利要求2所述的核壳粒子,其中,

所述III族元素为In,所述V族元素为P。

4.根据权利要求1或2所述的核壳粒子,其中,

所述II族元素为Zn,所述VI族元素为S或Se。

5.根据权利要求4所述的核壳粒子,其中,

所述II族元素为Zn,所述VI族元素为S。

6.根据权利要求1或2所述的核壳粒子,其中,

通过X射线光电子能谱分析所测定的所述II族元素的峰值强度比相对于所述III族元素的峰值强度比的比例为0.35以上。

7.一种核壳粒子的制造方法,其合成权利要求1~6中任一项所述的核壳粒子,所述核壳粒子的制造方法包括:

第1工序,制备将包含III族元素的III族原料与包含II族元素的II族原料混合并溶解而成的混合溶液;

第2工序,在所述混合溶液中添加包含V族元素的V族原料,从而形成含有所述III族元素及所述V族元素的核;及

第3工序,在形成所述核后的混合溶液中添加包含VI族元素的VI族原料,从而在所述核表面的至少一部分上形成含有所述II族元素及所述VI族元素的壳,

所述第3工序在230℃以上的温度下进行。

8.根据权利要求7所述的核壳粒子的制造方法,其中,

所述第2工序在小于230℃的温度下进行。

9.根据权利要求8所述的核壳粒子的制造方法,其中,

所述第2工序在120℃以上且200℃以下的温度下进行。

10.根据权利要求7~9中任一项所述的核壳粒子的制造方法,其中,

所述第3工序在240℃以上的温度下进行。

11.根据权利要求7~9中任一项所述的核壳粒子的制造方法,其中,

所述III族元素为In,所述V族元素为P、N及As中的任一种元素。

12.根据权利要求11所述的核壳粒子的制造方法,其中,

所述III族元素为In,所述V族元素为P。

13.根据权利要求7~9中任一项所述的核壳粒子的制造方法,其中,

所述II族元素为Zn,所述VI族元素为S或Se。

14.根据权利要求13所述的核壳粒子的制造方法,其中,

所述II族元素为Zn,所述VI族元素为S。

15.根据权利要求7~9中任一项所述的核壳粒子的制造方法,其中,

所述III族原料为In的氯化物。

16.根据权利要求7~9中任一项所述的核壳粒子的制造方法,其中,

所述II族原料为Zn的氯化物。

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