[发明专利]测量和确定噪声参数的系统和方法

权利要求书

1.一种使用测试系统来测量噪声数据并且确定用于RF被测器件DUT的器件噪声模型的元件值的方法，所述测试系统包括用于向所述DUT呈现可控制的可变阻抗的耦合到所述DUT的输入的阻抗调谐器、以及耦合到所述DUT的输出的噪声接收器，所述方法包括：

使用所述测试系统来测量作为至少一个测量参数的函数的关于所述DUT在RF频率处的噪声数据；

将测量的所述噪声数据存储在存储器中；

通过将拟合算法应用到测量的所述噪声数据，使用测量的所述噪声数据来确定所述器件噪声模型的元件值，并且其中测量的所述噪声数据包括从所述噪声接收器读取的原始噪声数据，并且其中测量的所述噪声数据不包括所述DUT的噪声参数；并且

其中具有所述器件噪声模型的所述元件值的所述器件噪声模型表示所述DUT在RF频率处的噪声性能，所述噪声性能不限于在测量步骤期间的所述测量参数的测量范围，并且所述器件噪声模型被配置为预测所述DUT的噪声贡献而不具有由测量误差所致的分散。

2.根据权利要求1所述的方法，其中所述器件噪声模型是器件响应模型。

3.根据权利要求2所述的方法，其中所述器件响应模型包括所述噪声参数作为测量参数值的函数应当平滑变化的知识或假设。

4.根据权利要求3所述的方法，其中所述器件响应模型进一步包括与所述噪声参数如何作为多个测量参数的函数而变化有关的知识或假设。

5.根据权利要求1所述的方法，其中所述至少一个测量参数是频率。

6.根据权利要求1所述的方法，其中所述至少一个测量参数是偏置值。

7.根据权利要求1所述的方法，其中所述至少一个测量参数是温度。

8.根据权利要求1所述的方法，进一步包括：

使用所述器件噪声模型的所述元件值从所述器件噪声模型来计算所述DUT的噪声参数。

9.根据权利要求8所述的方法，其中测量的所述噪声数据的子集被用于噪声参数确定。

10.根据权利要求9所述的方法，其中测量的所述噪声数据的所述子集被选择，以去除在所述器件不稳定或测量精度下降的阻抗处的所测量的所述噪声数据。

11.根据权利要求9所述的方法，包括：

执行所述噪声参数数据的多个计算，每个计算使用测量的所述噪声数据的不同子集，并且其中最佳结果被保持作为最终计算的所述噪声参数。

12.根据权利要求1所述的方法，其中测量的所述噪声数据的子集被用于所述器件噪声模型的所述元件值的确定。

13.根据权利要求12所述的方法，其中测量的所述噪声数据的所述子集被选择，以去除在所述器件不稳定或测量精度下降的阻抗处的所测量的所述噪声数据。

14.根据权利要求12所述的方法，其中所述器件噪声模型的所述元件值的多个确定被执行，每个确定包括使用测量的所述噪声数据的不同子集的计算，并且其中最佳结果被保持作为最终计算的所述噪声模型。

15.根据权利要求1所述的方法，其中所述测量噪声数据包括：

(i)将所述阻抗调谐器设定为第一状态；

(ii)利用处于所述第一状态的所述阻抗调谐器针对所述至少一个测量参数的所有值来测量所述噪声数据；

(iii)将所述阻抗调谐器设定为另一状态；

(iv)利用处于所述另一状态的所述阻抗调谐器针对所述所有值来测量所述噪声数据；

(v)重复步骤(iii)和(iv)直到所述噪声数据已经针对每个所期望的阻抗调谐器状态被测量。