[发明专利]改进BCD技术中的横向BJT特性有效
申请号: | 201580058252.2 | 申请日: | 2015-11-13 |
公开(公告)号: | CN107078059B | 公开(公告)日: | 2020-12-04 |
发明(设计)人: | 纳塔莉娅·拉夫洛夫斯卡娅;阿列克谢·萨多夫尼科夫 | 申请(专利权)人: | 德州仪器公司 |
主分类号: | H01L21/331 | 分类号: | H01L21/331;H01L29/73 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 林斯凯 |
地址: | 美国德*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 改进 bcd 技术 中的 横向 bjt 特性 | ||
1.一种双极结型晶体管BJT,其包括:
发射极;
基极,其包括基极接触件区域和位于所述基极接触件区域下方的掩埋基极层;以及
集电极,其包含朝向所述基极接触件区域而延伸的分级集电极接触件区域,所述分级集电极接触件区域具有朝向所述基极接触件区域而下降的横向掺杂浓度,并且所述集电极横向地围绕所述发射极和所述基极,其中所述分级集电极接触件区域包括深阱和位于所述深阱内的浅阱、并且所述深阱比所述浅阱掺杂得更轻,所述分级集电极接触件区域包括垂直地延伸以接触所述浅阱和所述深阱的深沟槽;
其中所述掩埋基极层在所述分级集电极接触件区域的下方延伸。
2.根据权利要求1所述的BJT,其中所述基极包括位于所述掩埋基极层上方的外延层。
3.根据权利要求2所述的BJT,其中所述基极接触件区域包含位于所述外延层上方的浅阱。
4.根据权利要求1所述的BJT,其中所述分级集电极接触件区域的所述深阱包括n型深阱、并且所述分级集电极接触件区域的所述浅阱为位于所述n型深阱内且位于所述n型深阱上方的n型浅阱。
5.根据权利要求1所述的BJT,其中所述分级集电极接触件区域的所述深阱包括p型深阱、并且所述分级集电极接触件区域的所述浅阱为位于所述p型深阱内且位于所述p型深阱上方的p型浅阱。
6.一种双极结型晶体管BJT,其包括:
发射极;
基极,其包括第一掩埋层、位于所述第一掩埋层上方的外延层和在所述外延层中形成的基极接触件区域;以及
集电极,其横向地围绕所述发射极和所述基极,所述集电极包含:
在所述第一掩埋层下方延伸的第二掩埋层;以及
分级集电极接触件区域,其耦合至所述第二掩埋层并且邻接所述外延层、并且部分地穿透所述第一掩埋层,其中所述分级集电极接触件区域包括n型深阱和位于所述n型深阱内且位于所述n型深阱上方的n型浅阱。
7.根据权利要求6所述的BJT,其中所述分级集电极接触件区域包括在所述基极的所述外延层的下方延伸的所述n型深阱。
8.根据权利要求6所述的BJT,其中所述第一掩埋层包括p型掩埋层,并且所述第二掩埋层包括n型掩埋层。
9.根据权利要求6所述的BJT,其中所述基极接触件区域包括位于所述外延层上方的浅阱。
10.根据权利要求6所述的BJT,其中所述分级集电极接触件区域包括:
深沟槽,其垂直地延伸以将所述n型浅阱和所述n型深阱耦合至所述第二掩埋层。
11.根据权利要求6所述的BJT,其中所述分级集电极接触件区域包括:
具有第一掺杂级的所述n型浅阱;以及
具有比所述第一掺杂级更低的第二掺杂级的所述n型深阱。
12.根据权利要求11所述的BJT,其中所述第一掺杂级高于1e16/cm3,并且所述第二掺杂级在1e16/cm3至1e15/cm3的范围内。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造