[发明专利]改进BCD技术中的横向BJT特性有效

专利信息
申请号: 201580058252.2 申请日: 2015-11-13
公开(公告)号: CN107078059B 公开(公告)日: 2020-12-04
发明(设计)人: 纳塔莉娅·拉夫洛夫斯卡娅;阿列克谢·萨多夫尼科夫 申请(专利权)人: 德州仪器公司
主分类号: H01L21/331 分类号: H01L21/331;H01L29/73
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 林斯凯
地址: 美国德*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 改进 bcd 技术 中的 横向 bjt 特性
【权利要求书】:

1.一种双极结型晶体管BJT,其包括:

发射极;

基极,其包括基极接触件区域和位于所述基极接触件区域下方的掩埋基极层;以及

集电极,其包含朝向所述基极接触件区域而延伸的分级集电极接触件区域,所述分级集电极接触件区域具有朝向所述基极接触件区域而下降的横向掺杂浓度,并且所述集电极横向地围绕所述发射极和所述基极,其中所述分级集电极接触件区域包括深阱和位于所述深阱内的浅阱、并且所述深阱比所述浅阱掺杂得更轻,所述分级集电极接触件区域包括垂直地延伸以接触所述浅阱和所述深阱的深沟槽;

其中所述掩埋基极层在所述分级集电极接触件区域的下方延伸。

2.根据权利要求1所述的BJT,其中所述基极包括位于所述掩埋基极层上方的外延层。

3.根据权利要求2所述的BJT,其中所述基极接触件区域包含位于所述外延层上方的浅阱。

4.根据权利要求1所述的BJT,其中所述分级集电极接触件区域的所述深阱包括n型深阱、并且所述分级集电极接触件区域的所述浅阱为位于所述n型深阱内且位于所述n型深阱上方的n型浅阱。

5.根据权利要求1所述的BJT,其中所述分级集电极接触件区域的所述深阱包括p型深阱、并且所述分级集电极接触件区域的所述浅阱为位于所述p型深阱内且位于所述p型深阱上方的p型浅阱。

6.一种双极结型晶体管BJT,其包括:

发射极;

基极,其包括第一掩埋层、位于所述第一掩埋层上方的外延层和在所述外延层中形成的基极接触件区域;以及

集电极,其横向地围绕所述发射极和所述基极,所述集电极包含:

在所述第一掩埋层下方延伸的第二掩埋层;以及

分级集电极接触件区域,其耦合至所述第二掩埋层并且邻接所述外延层、并且部分地穿透所述第一掩埋层,其中所述分级集电极接触件区域包括n型深阱和位于所述n型深阱内且位于所述n型深阱上方的n型浅阱。

7.根据权利要求6所述的BJT,其中所述分级集电极接触件区域包括在所述基极的所述外延层的下方延伸的所述n型深阱。

8.根据权利要求6所述的BJT,其中所述第一掩埋层包括p型掩埋层,并且所述第二掩埋层包括n型掩埋层。

9.根据权利要求6所述的BJT,其中所述基极接触件区域包括位于所述外延层上方的浅阱。

10.根据权利要求6所述的BJT,其中所述分级集电极接触件区域包括:

深沟槽,其垂直地延伸以将所述n型浅阱和所述n型深阱耦合至所述第二掩埋层。

11.根据权利要求6所述的BJT,其中所述分级集电极接触件区域包括:

具有第一掺杂级的所述n型浅阱;以及

具有比所述第一掺杂级更低的第二掺杂级的所述n型深阱。

12.根据权利要求11所述的BJT,其中所述第一掺杂级高于1e16/cm3,并且所述第二掺杂级在1e16/cm3至1e15/cm3的范围内。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于德州仪器公司,未经德州仪器公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201580058252.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top