[发明专利]光谱测定方法及光谱测定装置在审

专利信息
申请号: 201580055331.8 申请日: 2015-09-21
公开(公告)号: CN107076613A 公开(公告)日: 2017-08-18
发明(设计)人: 奥野俊明;森岛哲;藤本美代子 申请(专利权)人: 住友电气工业株式会社
主分类号: G01J3/50 分类号: G01J3/50;G01N21/359
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司11112 代理人: 顾红霞,何胜勇
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 光谱 测定 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种光谱测定方法,包括:

利用来自光源的测量光照射要测量的对象物体;

利用多个二维排列像素接收由于利用所述测量光进行照射而从所述对象物体输出的透射光或漫反射光;

多次获得多个单元区域中的每一个单元区域的光谱数据,所述多个单元区域包括所述对象物体上的至少一个单元区域以及与所述一个单元区域相邻的单元区域;以及

通过对多次获得的所述多个单元区域的所述光谱数据求平均来计算所述对象物体的光谱数据。

2.根据权利要求1所述的光谱测定方法,

其中,所述多个二维排列像素包括排列在第一方向上的像素以及排列在与所述第一方向正交的第二方向上的像素,并且波长信息被分配给排列在所述第一方向上的所述像素中每一者,而所述对象物体的位置信息被分配给排列在所述第二方向上的所述像素中每一者,从而获得所述对象物体上的沿所述第二方向布置的所述多个单元区域中的每一个单元区域的光谱数据。

3.根据权利要求1或2所述的光谱测定方法,

其中,通过使设置在所述多个二维排列像素的前段处的可变波长滤波器暂时改变传输波长来获得所述多个单元区域中的每一个单元区域的所述光谱数据。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的光谱测定方法,

其中,所述测量光包括在1650nm至1750nm的波长范围内的光。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的光谱测定方法,

其中,所述测量光包括在2100nm至2200nm的波长范围内的光。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的光谱测定方法,

其中,所述多个二维排列像素包括40,000以上个像素。

7.一种光谱测定装置,包括:

光源,其将测量光照射在要测量的对象物体上;

图像采集装置,其通过利用多个二维排列像素接收由于利用来自所述光源的所述测量光进行照射而从所述对象物体输出的透射光或漫反射光,来获得所述对象物体上的多个单元区域中的每一个单元区域的光谱数据;以及

光谱计算装置,其根据在所述图像采集装置中得到的所述多个单元区域中的每一个单元区域的所述光谱数据来计算所述对象物体的光谱数据,

其中,所述图像采集装置多次获得所述多个单元区域中的每一个单元区域的所述光谱数据,以及

所述光谱计算装置通过对在所述对象物体上的至少一个单元区域以及与所述一个单元区域相邻的单元区域中多次获得的所述光谱数据求平均来计算所述对象物体的所述光谱数据。

8.根据权利要求7所述的光谱测定装置,

其中,所述多个二维排列像素包括排列在第一方向上的像素以及排列在与所述第一方向正交的第二方向上的像素,并且波长信息被分配给排列在所述第一方向上的所述像素中每一者,而所述对象物体的位置信息被分配给排列在所述第二方向上的所述像素中每一者,从而获得所述对象物体上的沿所述第二方向布置的所述多个单元区域中的每一个单元区域的光谱数据。

9.根据权利要求7或8所述的光谱测定装置,

其中,所述测量光包括在1650nm至1750nm的波长范围内的光。

10.根据权利要求7至9中任一项所述的光谱测定装置,

其中,所述测量光包括在2100nm至2200nm的波长范围内的光。

11.根据权利要求7至10中任一项所述的光谱测定装置,

其中,所述图像采集装置由40,000以上个像素构成。

12.根据权利要求7所述的光谱测定装置,

其中,所述图像采集装置通过使设置在所述多个像素的前段处的可变波长滤波器暂时改变传输波长来在所述多个像素中获得所述对象物体上的所述多个单元区域中的每一个单元区域的所述光谱数据。

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