[发明专利]探测系统及探测方法

说明书

本发明提供一种方法及系统，该方法在选择性地包含右旋圆偏振光或左旋圆偏振光中任一种旋向的圆偏振光已被感应的状态下，通过使圆偏振光的光路交叉而对象物通过时所感应的光量发生变化来探测对象物，该系统依次包含照射圆偏振光的照射部、对象物移动部及感应圆偏振光的检测部，上述检测部位于由上述照射部所照射的光入射的位置，由上述照射部所照射的光入射于上述检测部的光的光路与上述对象物移动部交叉，由上述照射部选择性地照射的圆偏振光的旋向与由检测部选择性地感应的圆偏振光的旋向相同。通过本发明的方法及系统，使用光传感器，能够在任意的环境下以高灵敏度且没有误探测地探测各种对象物。

技术领域

本发明涉及一种探测系统及探测方法。更详细地，本发明涉及一种利用圆偏振光的探测系统及探测方法。

背景技术

光传感器使用于各种领域，自动门传感器中可看到检测当人进入门前区域时的光量变化的情形。并且，内置于自动售货机等中的纸币识别机使用光传感器来判别纸币的大小或读取纸币的印刷。

以往作为使用光传感器的探测系统已知有使用偏振光的系统。例如，专利文献1中，在硅基板上照射经由第一直线偏振光滤波器的偏振红外光，并以将由硅基板的反射光或透射光经由第二直线偏振光滤波器而受光的系统来检测硅基板的龟裂。该技术利用了如下现象，即不存在龟裂的地方的反射光或透射光为直线偏振光且满足经由第二直线偏振光滤波器的这一特定的条件时，除此以外能够感应的光量减少，但在由龟裂的反射光或透射光中，通过漫反射产生由第二直线偏振光滤波器也能够感应的光。而且，专利文献2中公开有专利文献1的技术中利用圆偏振光的技术。在此，在光源与硅基板之间的光束的光路中所设置的第1圆偏振光滤波器和在光束的光路的延长线上且相对于硅基板与配置有第1圆偏振光滤波器的一侧相反侧所配设的第2圆偏振光滤波器具有相反的偏振光方向。

专利文献3中公开有利用红外光来检查人的手或物体的自动水栓装置中使用透射所照入的红外光的直线偏振光成分的第1偏振单元与使受光的红外光的直线偏振光成分透射的第2偏振单元来防止误探测的装置。在该装置中，第1偏振光机构及第2偏振光机构通过使所透射的光成为不同的偏振光成分来检测漫反射成分，以探测对象物。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本专利公开2008-58270号公报

专利文献2：日本专利公开2013-36888号公报

专利文献3：日本专利公开2003-96850号公报

发明内容

发明要解决的技术课题

在以往的使用光传感器的系统中，因探测对象物的光学特征等，有时会出现误探测，因此需要时时改善。专利文献3为减少了误探测的结构的一例，其在背景光成为镜面反射光的环境中对存在对象物时的漫反射进行感应。专利文献1中所记载的技术及利用圆偏振光的专利文献2中所记载的技术同样也是在背景光成为镜面反射光的环境中对来自对象物的漫反射成分进行检测的技术。

本发明的课题在于提供一种能够在各种环境及对象物中使用的灵敏度高且误探测少的探测系统。并且，本发明的课题在于提供一种使用光传感器而在任意的环境中以高灵敏度且没有误探测地探测各种对象物的方法。

用于解决技术课题的手段

本发明人等，为了解决上述课题，不断进行深入研究，发现了新的系统。即，本发明提供下述的[1]～[20]。

[1]一种系统，其探测对象物，其中，

该系统依次包含照射圆偏振光的照射部、对象物移动部及感应圆偏振光的检测部，

上述检测部位于由上述照射部所照射的光入射的位置，

由上述照射部所照射的光入射于上述检测部的光的光路与上述对象物移动部交叉，