[实用新型]信号拉偏器

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种信号拉偏器，特别是一种用于检测宇航产品在温度影 响下所能承受最大拉偏值的信号拉偏器。

背景技术

航天电子设备在太空中受高低温环境影响，电信号会出现拉偏延时，严重 时可导致产品失效。现有技术中，一般通过地面高低温环境试验对产品进行定 性摸底，然而采用这种方式不能对信号进行定量的精确拉偏试验，且一旦出现 问题，则在后期的产品调试、设计更改的代价较大。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种单片机输出信号拉偏器，解决航天单片机 设备无法在前期调试阶段测试产品信号拉偏延时适应性、后期由于高低温试验 受信号拉偏影响严重而导致产品失效需更改的问题。

为解决上述技术问题，本实用新型提供了一种信号拉偏器，包括信号处理 模块、拉偏控制模块、转接模块和I/O模块；

信号处理模块分别与拉偏控制模块、转接模块和I/O模块相连接；

转接模块用于与外部上位机相连接；

拉偏控制模块用于响应控制输入，设定拉偏时间；

信号处理模块用于：

读取拉偏控制模块上设定的拉偏时间；

根据拉偏时间对转接模块接收到的信息进行拉偏，并通过I/O模块发送至 外部设备。

作为优选的，拉偏控制模块设有拨码开关；

拨码开关用于设定拉偏时间。

作为优选的，拉偏控制模块设有四组拨码开关；每一组拨码开关表征0至 255ns之间的连续拉偏位置。

作为优选的，包括上层印制板和下层印制板；

拉偏控制模块和信号处理模块设于上层印制板上；

转接模块和I/O模块设于下层印制板上；

上层印制板与下层印制板之间通过柔性PCB相连接。

作为优选的，转接模块的信号输入接口与外部上位机的信号输出接口相匹 配；I/O模块的信号输出接口与外部设备的信号输入接口相连接。

作为优选的，信号处理模块为CPLD模块。

作为优选的，CPLD模块包括晶振电路。

作为优选的，拨码开关的外围设有上拉和下拉电路。

本实用新型的单片机输出信号拉偏器的I/O模块接口与单片机一致，可直 接替代单片机与母板连接，测试时无需其它转接设备；本实用新型的单片机输 出信号拉偏器带有4路拨码开关，方便测试过程中手动调节各路信号拉偏量； 本实用新型的单片机输出信号拉偏器采用层叠式结构，集成度高、尺寸小，达 到了便于插拔、简单易用的效果。

附图说明

图1为本实用新型中一信号拉偏器的结构框图。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本 实用新型的各实施方式进行详细的阐述。

本实用新型的第一实施方式涉及一种信号拉偏器，如图1所示，包括信号 处理模块、拉偏控制模块3、转接模块和I/O模块4；信号处理模块分别与拉偏 控制模块3、转接模块和I/O模块4相连接；转接模块用于与外部上位机相连接； 拉偏控制模块用于响应控制输入和设定拉偏时间；信号处理模块用于：读取拉 偏控制模块3上设定的拉偏时间；根据拉偏时间对转接模块接收到的信息进行 拉偏，并通过I/O模块4发送至外部设备。

在本实施例中，信号处理模块为CPLD模块2，转接模块为单片机转接模块 1，单片机转接模块1与外部单片机5相连接，I/O模块4与外部母版6相连接。

当本实施例的单片机输出信号拉偏器连接上单片机5并安装于母板6时， 单片机5各路输出信号会按拨码开关设置值进行拉偏。采用该方式，可定量测 试单片机设备在高低温环境下的信号拉偏适应性；且本实用新型的单片机输出 信号拉偏器尺寸小，对外接口与单片机5一致，可直接与母板6插连；输入拉 偏量利用拨码开关实现，操作简便快捷。

在本实施例中，所述单片机转接模块1设有与所述单片机5配套的接口， 可与所述单片机5直接插连；将所述单片机5与外围设备通信用的四类输出信 号WR、RD、ALE、Addr/Data通过印制板走线转送至所述CPLD模块2。