[实用新型]一种改进型逻辑芯片检测器

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种电子元器件检测领域，具体是一种芯片检测器。

背景技术

常用的电子元器件如电阻、电容、电感、二极管、三极管等，都有相应的仪表如万用表，LCR表等可以检测好坏与参数，然而以上常用仪表，却无法检测逻辑芯片的好坏。正常的检测方法是针对不同型号的芯片，搭建不同的电路来检验逻辑芯片好坏，费时费力，还需要有相应的硬件设备，成本较高。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种改进型逻辑芯片检测器，其检测很方便，且一个检测器即可测出多种逻辑芯片的好坏、型号，成本较低。

为了实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案：

一种改进型逻辑芯片检测器，包括5V电源、STC89C58主控制器、复位电路、晶体振荡电路、LCD1602液晶显示屏、按键组和16P的IC锁紧座；

由5V电源为整个检测器提供工作电源；

IC锁紧座上与待测逻辑芯片的输入端和输出端相对应的引脚分别通过STC89C58主控制器的双向IO口与STC89C58主控制器相连接；

复位电路连接在STC89C58主控制器的复位端；

晶体振荡电路连接在STC89C58主控制器的时钟端；

LCD1602液晶显示屏与STC89C58主控制器的相应IO口通信连接；

按键组连接于STC89C58主控制器的相应IO口，用于选择待测逻辑芯片的型号进行检测或者直接执行自动检测芯片型号与好坏；

STC89C58主控制器中存储有逻辑符号，以及对应于各种逻辑芯片的真值表和型号，STC89C58主控制器根据按键组的输入指令用于测量IC锁紧座上安放的待测逻辑芯片的型号及好坏，并指示LCD1602液晶显示屏的显示结果，令LCD1602液晶显示屏显示待测逻辑芯片的型号及好坏。

采用上述方案后，本实用新型的改进型逻辑芯片检测器，使用时，通过按键组触发STC89C58主控制器通过其IO口输出不同的逻辑符号至待测逻辑芯片的输入端，然后STC89C58主控制器通过其IO口获取待测逻辑芯片的输出信号，此输出信号与STC89C58主控制器内存储的各逻辑芯片的真值表比对，找出相配对的逻辑芯片的真值表，从而可确认待测逻辑芯片的型号，并在LCD1602液晶显示屏上显示。若找不到相配对的逻辑芯片的真值表，则判断此待测逻辑芯片是坏的。本实用新型的逻辑芯片检测器，适合所有管脚数为16P或14P的TTL逻辑电平的芯片检测，覆盖上百种逻辑芯片，检测很方便，成本较低。

附图说明

图1是实用新型的电路原理图。

具体实施方式

本实用新型的改进型逻辑芯片检测器，如图1所示，包括5V电源、STC89C58主控制器、复位电路、晶体振荡电路、LCD1602液晶显示屏、4路按键和16P的IC锁紧座；

由5V电源为整个检测器提供工作电源；

STC89C58主控制器具有14个双向IO口，IC锁紧座的第1引脚至第7引脚，以及第9引脚至第15引脚分别通过此14个双向IO口与STC89C58主控制器相连接；IC锁紧座的第8引脚接地，第16引脚接5V电源；

复位电路连接在STC89C58主控制器的复位端；

晶体振荡电路连接在STC89C58主控制器的时钟端；

LCD1620液晶显示屏与STC89C58主控制器相应的11个IO口通信连接；

4路按键分别连接于STC89C58主控制器相应的4个IO口，用于选择待测逻辑芯片的型号以及是否进行自动检测；其中，K1按键用于上次选择的芯片型号进行检测及进入芯片型号选择界面后选择某一型号的芯片，K2按键用于重新选择芯片型号及进入芯片型号选择界面后选择某一型号的芯片，K3按键用于自动检测及进入芯片型号选择界面后选择某一型号的芯片，K4按键用于进入芯片型号选择界面后的翻页键。

STC89C58主控制器中存储有逻辑符号，以及对应于各种逻辑芯片的真值表和型号，STC89C58主控制器根据按键的输入指令用于测量IC锁紧座上安放的待测逻辑芯片的型号及好坏，并指示LCD1620液晶显示屏的显示结果，令LCD1620液晶显示屏显示待测逻辑芯片的型号及好坏。