[实用新型]一种材料试验机控制器

权利要求书

1.一种材料试验机控制器，其特征在于，包括：AD转换模块，高速脉冲调理模块，PWM脉冲输出调制模块，DA输出模块，通讯模块，电源模块，用于解析软件指令、生成控制信号、接收各路测量信号值并转发给上位机软件的ARM微控制器模块，以及用于采集各路测量信号、对脉冲信号进行方向判别并计数、控制伺服电机运行的FPGA可编程逻辑模块；

所述ARM微控制器模块与所述通讯模块、FPGA可编程逻辑模块分别连接；所述FPGA可编程逻辑模块，还同时与所述AD转换模块、高速脉冲调理模块、PWM脉冲输出调制模块、DA输出模块分别连接。

2.如权利要求1所述的材料试验机控制器，其特征在于，所述ARM微控制器模块采用以ARMCortex-M3为核心的STM32控制器，由复位芯片、晶体振荡器、ARM微控制器、SWD调试接口组成。

3.如权利要求1所述的材料试验机控制器，其特征在于，所述FPGA芯片采用ProASIC3芯片，由48MHZ有源晶振、JTAG调试接口、FPGA芯片组成。

4.如权利要求1所述的材料试验机控制器，其特征在于，所述AD转换模块具体包括：

传感器信号INPUT1+、INPUT1-接入电容C1两端然后分别经过电阻R2、电阻R3进入电容C5两端，电容C5两端各自接一个电容C4、电容C6滤波，滤波后的信号AIN+、AIN-接入AD转换芯片9的1脚和2脚，进行AD转换，AD转换后的数字信号经由AD转换芯片的11、12、13、14脚各自连接电阻阵列12的1、2、3、4脚后输出至FPGA可编程逻辑模块；AD转换芯片9的3、4脚接在电容C7的两端，AD转换芯片9的5脚接入+5V电压，并通过电容8连接到模拟地，AD转换芯片9的9脚接入时钟信号，AD转换芯片9的15脚接入+3.3V并通过电容C11连接到数字地去耦，AD转换芯片9的16脚接到数字地，AD转换芯片9的18脚接入+2.5V参考电压，并通过电容10接到模拟地，AD转换芯片9的6、17、19、20脚接到模拟地。

5.如权利要求1所述的材料试验机控制器，其特征在于，所述高速脉冲调理模块具体包括：

两路脉冲信号A、B,A1、B1分别接入电阻阵列13的5、6、7、8脚限流，电阻阵列13的1、2、3、4脚分别接入光耦15的1脚、4脚，光耦14的1脚、4脚，隔离后的信号分别由光耦14的6、7脚，光耦15的6、7脚输出；光耦14的2、3、5脚接地，光耦14的8脚接入+5V电压并通过电容16接到数字地；光耦15的2、3、5脚接地，光耦15的8脚接入+5V电压并通过电容17接到数字地。差分脉冲信号SVCoder_A+、SVCoder_A-，SVCoder_B+、SVCoder_B+分别接入差分接收器芯片18的1、2脚，5、6脚，经由差分接收器芯片18的3、5脚输出；差分接收器芯片18的16脚接+5V电压并通过电容19接到数字地，差分接收器芯片18的12脚接到数字地。

6.如权利要求1所述的材料试验机控制器，其特征在于，所述电源模块具体包括：

+5V电压经过电容C20、电容C21的一端进入电压转换芯片22的3脚，+3.3V电压从电压转换芯片22的2脚输出，经过电容C23、电容C24的一端进入电压转换芯片25的1、3脚，+1.5V电压从电压转换芯片25的5脚输出，经过电容C27、C28输出至所需电路；电压转换芯片25的4脚通过电容C26接到模拟地，电容C20、电容C21、电容C23、电容C24、电容C27、电容C28另一端接到模拟地；+12V电压经过电容C29、电容C30的一端接入电压转换芯片31的2脚，+5V模拟电压从电压转换芯片31的6脚输出，经过电容C32、电容C33滤波输出至所需电路；电阻R34、电阻R35串联，电阻R34一端接入+5V模拟电压，电阻R35一端接到模拟地。电压转换芯片31的4脚，电容C32、电容C33另一端接到模拟地；+12V电压接入电压转换芯片36的8脚，-12V电压从电压转换芯片36的5脚输出，通过电容C38连接到模拟地，电压转换芯片36的3脚连接到模拟地，电压转换芯片36的2脚、电压转换芯片36的4脚分别接到电容C37的两端。