[实用新型]测试治具及其测试组件

说明书

技术领域

本实用新型涉及电子元件散热技术领域，尤其涉及一种测试组件和具有该测试组件的测试治具。

背景技术

现有技术中，在主机板功能测试时，需要通过一个CPU及散热风扇来测试流水线上不断传送过来的主机板，因此CPU为测试元件，而主机板则为被测试元件。

在进行上述测试时，现有技术中普遍的做法是CPU及散热风扇均由操作员手动逐一放入，测试完成后再将CPU和散热风扇取下，测试下一片主机板时，又需再次装入CPU及散热风扇。

现有技术的上述测试过程，增加了测试耗时，且手动的装上取下CPU及散热风扇，会造成其磨损甚至遗失，且因需操作员手动拿取CPU及散热风扇，故CPU与散热风扇之间也未涂导热膏，未达到最佳的散热效果。测试时如果器件散热不良，严重时会导致器件烧毁。

因此，需要开发一种测试组件，以减少测试耗时，减少器件磨损，杜绝器件遗失，并达到更佳的散热效率。

实用新型内容

针对现有技术中存在的不足，本实用新型的目的在于提供一种包括测试元件和散热装置在内的测试组件。

本实用新型的另一目的在于提供一种具有本实用新型的测试组件的测试治具。

本实用新型的目的，由以下技术方案实现：

一种测试组件，用于测试治具，所述测试组件包括：

测试元件，具有散热表面；

散热金属片，具有散热接触片；

固定件，所述测试元件固定于所述固定件，并露出所述散热表面，所述固定件连接于所述散热接触片；以及

制冷片，具有冷端面和热端面，设置于所述固定件与所述散热金属片之间，所述冷端面与所述测试元件的所述散热表面贴合，所述热端面与所述散热金属片的所述散热接触片贴合。

本实用新型的测试组件，优选的，所述测试组件还包括散热风扇，所述散热风扇设置于所述散热金属片的远离所述散热接触片的一侧。

本实用新型的测试组件，优选的，所述固定元件为固定钢片，所述固定钢片由四个边框围成有矩形中空部，所述四个边框的内面均为波纹状。

本实用新型的测试组件，优选的，所述散热金属片为散热铜片，所述散热金属片包括相互平行的多个片体，所述多个片体垂直于所述散热接触片和所述散热表面。

本实用新型的测试组件，优选的，所述散热金属片的所述散热接触片与所述制冷片的所述热端面之间涂覆有导热膏，所述制冷片的所述冷端面与所述测试元件的散热表面之间也涂覆有导热膏。

本实用新型的测试组件，优选的，所述固定件上设置有第一通孔，所述散热金属片的散热接触片上具有第二通孔；

穿过所述第一通孔和所述第二通孔的第一螺栓由螺母固定，所述制冷片夹持于所述散热金属片的散热接触片与所述固定件之间。

本实用新型的测试治具，具有本实用新型的测试组件。

本实用新型的测试治具，优选的，所述测试治具还具有用于驱动所述测试组件向所述测试治具的被测试元件上的测试元件插槽运动的驱动装置。

本实用新型的测试治具，优选的，所述测试治具还具有一治具平台，所述测试组件包括散热风扇，所述散热风扇固定于所述治具平台的第一侧表面，所述散热金属片固定于所述治具平台的第二侧表面，所述驱动装置驱动为驱动所述治具平台的驱动装置。

本实用新型的测试治具，优选的，所述散热金属片的所述散热接触片上具有第二通孔和第三通孔，所述第二通孔中穿设的第一螺栓，用于连接所述固定件，所述第二通孔位于所述第三通孔的内侧；所述第三通孔中穿设的第二螺栓螺接于所述治具平台的所述第二侧表面。

本实用新型的有益效果在于，本实用新型的测试组件及测试治具，可用于各种主机板、显卡的测试、组装时需要散热降温的场合。本实用新型的测试组件，将散热系统固定下来，使测试操作变的更方便，减少了测试耗时；测试元件与被测试元件接触部位均导热良好且稳定，提高散热效率，减少因散热不良而产生的器件烧毁。

且本实用新型的测试组件结构简单，易于操作，减少了测试耗时。另外，本实用新型的测试组件由于制冷片成本低，因此成本较经济。

附图说明

图1是本实用新型实施例的测试组件固定于本实用新型实施例的测试治具的治具平台的示意图。

图2是图1中A部放大图。

图3是本实用新型实施例的测试组件中CPU固定钢片的俯视示意图。

图4是本实用新型实施例的测试组件中CPU固定钢片的立体示意图。

图5是本实用新型实施例的测试组件中散热金属片的散热接触片示意图。