[实用新型]天线相位的双轴向全自动测试设备

说明书

技术领域

本实用新型涉及天线相位测试技术领域，尤其是涉及一种天线相位的双轴向全自动测试设备。

背景技术

目前，国内一些天线厂家对天线进行相位测试时，多数还是依靠传统的手工移动探头来测试，这种人工测试方式不仅测试速度慢、效率低、质量差，且操作人员易于疲劳。为了提高测试效率，市场上也出现了一些自动相位测试设备，但大多结构较复杂，自动化程度低，实用性不高。

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服现有技术的缺陷，提供一种结构简单、定位精度高的双轴向、全自动天线相位的测试设备。

为实现上述目的，本实用新型提出如下技术方案：一种天线相位的双轴向全自动测试设备，包括驱动控制器、X轴驱动机构、Y轴驱动机构、探头、滑轨架和相位分析仪，所述驱动控制器与所述X轴驱动机构和Y轴驱动机构相连，控制两者分别沿X轴和Y轴方向运行；所述探头安装在所述滑轨架上，所述滑轨架与所述X轴驱动机构、Y轴驱动机构均相连，且在两者的驱动下带动所述探头沿X轴和Y轴方向接收位于探头下方天线测试点发送出的信号；所述相位分析仪与所述天线和探头均连接，用于根据所述探头获取的信号以及自身发送给所述天线的信号分析得到所述天线多个测试点的相位。

优选地，所述设备还包括用于承载天线的测试框架。

优选地，所述驱动控制器包括用于分别控制所述X轴驱动机构和Y轴驱动机构运行的X轴控制卡和Y轴控制卡。

优选地，所述X轴、Y轴驱动机构均包括驱动器、齿轮和与所述齿轮相啮合的齿条，所述驱动器与所述驱动控制器相连，所述X轴方向的齿条和Y轴方向的齿条通过各自的导轨架与所述测试框架相连，所述齿轮在所述驱动器驱动下沿相应的齿条滚动。

优选地，在所述测试框架的X轴和Y轴方向上各设置一位置传感器，所述位置传感器与所述探头信号连接，用于将测试点的位置信息反馈给所述探头。

优选地，所述测试框架的X轴和Y轴方向上均设置有滑轨，所述滑轨架通过滑块与各轴方向上的所述滑轨相滑动连接。

优选地，所述驱动器为步进电机或伺服电机。

优选地，所述测试框架为铝质框架。

优选地，所述滑轨为直线导轨。

本实用新型的有益效果是：本实用新型通过X轴、Y轴驱动机构驱动探头，实现了对天线上全部测试点的自动测试，结构简单，且具有定位精度高，速度快，测试效率高，方便操作者使用等优点。

附图说明

图1是本实用新型天线相位的双轴向全自动测试设备的立体结构示意图；

图2是图1的侧视结构示意图；

图3是图1的主视结构示意图。

附图标记：10、测试设备，20、测试框架，21、位置传感器，30、探头，40、滑轨架，50、X轴驱动机构，51、第一驱动器，52、第一齿轮，53、第一齿条，54、X轴滑轨，55、X轴滑块，60、Y轴驱动机构，61、第 二驱动器，62、第二齿轮，63、第二齿条，64、Y轴滑轨，65、Y轴滑块，70、驱动控制器，80、相位分析仪，90、天线。

具体实施方式

下面将结合本实用新型的附图，对本实用新型实施例的技术方案进行清楚、完整的描述。

结合图1、图2和图3所示，本实用新型所揭示的一种天线相位的双轴向全自动测试设备10，包括测试框架20、探头30、滑轨架40、X轴驱动机构50、Y轴驱动机构60、驱动控制器70和相位分析仪80，测试框架20上端用于承载天线90，整个框架20可由40*40mm和40*80mm铝型材制作而成。

探头30安装在滑轨架40上，且位于测试框架20上的天线90上方，用于获得天线90发送出的信号。

滑轨架40与X轴驱动机构50和Y轴驱动机构60均相连，且在两者的驱动下带动探头30沿X轴和Y轴运行，以使探头30能够获取到天线90上全部测试点发出的信号。X轴驱动机构50包括第一驱动器51、第一齿轮52和第一齿条53，第一齿轮52与第一驱动器51相连，第一齿条53通过导轨架(图未示)固定在测试框架20的X轴方向上，且与第一齿轮52相啮合，第一齿轮52在第一驱动器51的驱动下在第一齿条53上沿X轴方向移动，继而带动滑轨架40沿X轴方向移动。

测试框架20的X轴方向上还固定安装有滑轨54，滑轨架40通过滑块55沿X轴方向的滑轨54滑行。