[实用新型]花键对称度测量装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及测量工具技术领域，更具体地说是一种花键对称度测量装置。

背景技术

花键是两传动零件上借助内、外圆柱表面上等间距分布且齿数相同的键齿相互联结，传递扭矩或运动的同轴偶件，在机械加工过程中，常常需要对花键两端对称度进行测量，现有量刃器具如：1、千分尺只能对两端花键尺寸进行测量，不能对花键两端对称度测量，无法满足产品的质量精度要求；2、齿轮测量仪操作繁琐、效率低，不能适应产品的批量生产需求。

发明内容

为解决上述问题，本实用新型设计了一种侧脸精度高，操作简单、效率高，可以适应产品批量生产需求的花键对称度测量装置，其技术方案为：所述的花键对称度测量装置包括矩形的底座，其特征在于底座上侧一端固定有顶尖支架Ⅰ，另一端固定有顶尖支架Ⅱ，顶尖支架Ⅰ上设置有顶尖Ⅰ，顶尖支架Ⅱ上设置有顶尖Ⅱ，顶尖Ⅰ与顶尖Ⅱ同轴线，在底座上顶尖支架Ⅰ和顶尖支架Ⅱ之间设置有定位支架，定位支架上水平垂直于顶尖Ⅱ设置有定位销，所述的底座上还设置有用于测量花键对称度的测量装置，所述的测量装置包括通过螺栓固定一起的触头座Ⅰ和触头座Ⅱ，触头座Ⅰ上固定有表支架，表支架上固定有百分表，百分表测量头与设置在触头座Ⅰ和触头座Ⅱ内的触头上端相抵，所述的触头的下端设置有调节螺堵，所述的触头与调节螺堵之间设置有弹簧，触头的中部水平设置有与花键节圆接触的横杆。

本实用新型所述的顶尖Ⅱ采用螺钉固定在顶尖支架Ⅱ上。

本实用新型所述的顶尖Ⅰ采用锁紧螺钉Ⅰ固定在顶尖支架Ⅰ上，松开锁紧螺钉Ⅰ，顶尖Ⅰ可沿其轴线方向往复移动。

本实用新型所述定位销采用锁紧螺钉Ⅱ固定在定位支架上，松开锁紧螺钉Ⅱ，定位销可沿其轴线方向往复移动。

本实用新型所述顶尖支架Ⅰ、顶尖支架Ⅱ、定位支架采用螺栓固定在底座上。

本实用新型所述的测量装置可移动的放置在底座上。

使用时，保证底座底面清洁无污物，需要测量的工件用两顶尖顶紧，用锁紧螺钉Ⅰ将顶针Ⅰ锁紧，保证工件没有轴向窜动，再将定位销与工件相抵，用锁紧螺钉Ⅱ将定位销锁紧，保证工件不能绕轴线旋转，移动测量装置使触头上的横杆分别与两端花键节圆接触，两次测量百分表示数差值就是工件两端花键的对称度。

本实用新型的有益效果是花键对称度测量装置操作方便，能够适用不同长度范围花键的测量，测量精度高，效率快，能够满足工厂批量加工零件快速检验要求。

附图说明：

图1是本实用新型的俯视图；

图2是本实用新型的结构示意图；附图中：

1.顶针支架Ⅰ、2.顶针Ⅰ、3.定位支架、4.定位销、5.锁紧螺钉Ⅱ、6.顶针支架Ⅱ、7.螺钉、8.顶针Ⅱ、9.百分表、10.花键、11.底座、12. 锁紧螺钉Ⅰ、13.触头、14.表支架、15.横杆、16.触头座Ⅰ、17.弹簧、18.触头座Ⅱ、19.调节螺堵。

具体实施方式：

结合附图对本实用新型进一步详细描述，以便公众更好地掌握本实用新型的实施方法，本实用新型具体的实施方案为：所述的花键对称度测量装置，包括矩形的底座11，其特征在于底座11上侧一端固定有顶尖支架Ⅰ 1，另一端固定有顶尖支架Ⅱ 5，顶尖支架Ⅰ 1上设置有顶尖Ⅰ2，顶尖支架Ⅱ 5上设置有顶尖Ⅱ 8，顶尖Ⅰ2与顶尖Ⅱ8同轴线，在底座11上顶尖支架Ⅰ 1和顶尖支架Ⅱ 5之间设置有定位支架3，定位支架3上水平垂直于顶尖Ⅱ 5设置有定位销4，所述的底座11上还设置有用于测量花键10对称度的测量装置，所述的测量装置包括通过螺栓固定一起的触头座Ⅰ16和触头座Ⅱ18，触头座Ⅰ16上固定有表支架14，表支架14上固定有百分表9，百分表9测量头与设置在触头座Ⅰ 16和触头座Ⅱ 18内的触头13上端相抵，所述的触头13的下端设置有调节螺堵19，所述的触头13与调节螺堵19之间设置有弹簧17，触头13的中部水平设置有与花键节圆接触的横杆15。

本实用新型所述的顶尖Ⅱ8采用螺钉7固定在顶尖支架Ⅱ6上。

本实用新型所述的顶尖Ⅰ 2采用锁紧螺钉Ⅰ 12固定在顶尖支架Ⅰ1上，松开锁紧螺钉Ⅰ12，顶尖Ⅰ 2可沿其轴线方向往复移动。

本实用新型所述定位销4采用锁紧螺钉Ⅱ5固定在定位支架3上，松开锁紧螺钉Ⅱ5，定位销4可沿其轴线方向往复移动。

本实用新型所述顶尖支架Ⅰ1、顶尖支架Ⅱ6、定位支架3采用螺栓固定在底座11上。

本实用新型所述的测量装置可移动的放置在底座11上。