[实用新型]LED封装精密支架外观质量的光学检测系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种LED封装精密支架外观质量光学检测系统，用于检查此类LED封装精密支架外观质量是否合格。

背景技术

光学检测系统在近30年内迅猛发展，在现代化的自动生产过程中，机器视觉系统被广泛运用到工程监视、成品检测和质量控制等领域。目前大多数生产线上仍然在采用人工目测的方式，存在效率低、成本高、劳动强度大的缺点，浪费了大量的劳动资源。LED封装精密支架作为LED封装产品的重要组成部分，要求支架外观质量必须完好无损，不能出现开裂、崩角、缺件、极反以及存在尺寸误差等缺陷。

由于此类LED封装精密支架颗粒非常小、且排布非常密集，一方面人工检查会耗费大量的人员精力，同时还会产生诸多的因为人工主观因素而导致的误检、漏检等现象，从而对用户的产品质量管控带来巨大的困难。

实用新型内容

本实用新型目的是：针对上述问题，提供一种LED封装精密支架外观质量光学检测系统。该系统结构简单、外部连线少、检测快速、运行稳定、操作简单等特点，可以有效检测各种LED封装精密支架外观质量问题。

本实用新型的技术方案是：所述的LED封装精密支架外观质量光学检测系统，包括：

用于自前向后输送被检测的LED封装精密支架的第一传送带，该第一传送带是由辊轮驱动的回转传送带，

安装在所述辊轮上、并能随该辊轮一起转动的光电编码器，

设于所述第一传送带后端、以接收第一传送带输送过来的LED封装精密支架、并将该LED封装精密支架自前向后输送出去的第二传送带，所述第二传送 带上设置有能够带动该第二传送带的前端向上翻转、从而使第一传送带输送过来的不合格的LED封装精密支架无法进入该第二传送带并向下掉落出去的第二传送带翻转机构，

设于所述第二传送带下方的次品收纳箱，

设于所述第二传送带后端、以接收第二传送带输送过来的LED封装精密支架、并将该LED封装精密支架自前向后输送出去的第三传送带，

设于所述第一传送带上方的相机、光电式抓拍触发器和光电式丢弃触发器，其中光电式抓拍触发器位于相机附近，光电式丢弃触发器位于第一传送带后端，

控制器，以及 

工控机；

所述光电编码器、光电式抓拍触发器、光电式丢弃触发器以及第二传送带翻转机构均与所述控制器相连，所述相机、控制器和工控机之间通过以太网相连。

本实用新型在上述技术方案的基础上，还包括以下优选方案：

所述第一传送带上方还设置有位于所述相机附近的条形光源。

还包括一机架，所述第一传送带、第二传送带、第三传送带、相机、光电式抓拍触发器、光电式丢弃触发器、控制器和条形光源均安装在该机架上。

所述光电式抓拍触发器和光电式丢弃触发器均为激光漫反射型光电触发器。

所述第二传送带为回转传送带，其包括电机、与所述电机相连的主动辊、与主动辊平行布置的从动辊、缠绕在主动辊和从动辊上的回转皮带。

所述第二传送带翻转机构包括U字型的支架以及与该支架固定连接的舵机，所述U字型的支架由平行分布的两条侧臂以及垂直连接在这两条侧壁之间的底臂构成，所述主动辊和从动辊均通过轴承分别旋转连接在所述的两条侧臂上，所述舵机与所述控制器相连。

所述支架为中空的铝合金支架，所述主动辊和从动辊为塑料材质。

所述相机为CCD相机。该CCD相机所采集到的工件图像经过本光学检测系统的图像处理系统进行数据处理之后，能够自动判别出各种LED封装精密支架外观质量问题，如开裂、崩角、缺件、极反以及尺寸误差等。

所述第三传送带为回转传送带。

本实用新型的优点是：实用新型能够自动地进行LED封装精密支架外观质量的高速检测，具有良好的鲁棒性，准确定位，高速判别，同时能够将不良品予以自动分拣。在众多检测系统中，唯有本实用新型能够完备地判别出包括开裂、崩角、缺件、极反以及尺寸误差在内的各种LED封装精密支架外观质量问题。该系统结构简单，适应性强，可扩展性强。采用本实用新型的系统能够大大降低生产成本，节约劳动力，降低工人的劳动强度，大大提高了生产效率。

附图说明

下面结合附图及实施例对本实用新型作进一步描述：

图1是本实用新型的系统组成结构图；

图2是检测传送带、相机、光源和触发器安装示意图；

图3是第二传送带结构图；

图4是第二传送带详细结构侧视图；

图5是第二传送带详细结构俯视图；