[发明专利]一种测定浮法盖板玻璃片锡面厚度及锡面中锡含量的方法

说明书

技术领域

本发明涉及玻璃加工领域，具体地，涉及一种测定浮法盖板玻璃片锡面 厚度及锡面中锡含量的方法。

背景技术

浮法盖板玻璃工艺是目前较为广泛的平板玻璃生产方法。在浮法生产过 程中玻璃分为锡面与非锡面，在对盖板玻璃化学钢化过程中两面中的钠离子 与钾离子反应速率及交换量不一致，导致玻璃上下表面应力存在差异，易产 生翘曲。在解决办法中一般采用对玻璃表面进行抛光处理，即消除锡面，从 而达到玻璃钢化效果上下一致。然而，需精确掌握锡面厚度及锡面中锡含量， 才能精确的进行抛光处理，但是，由于锡面厚度较薄且锡面中的锡含量为痕 量，导致锡面厚度和锡面中锡含量均难以测定，迄今为止，尚无对浮法盖板 玻璃片锡面厚度及锡面中锡含量进行测定的方法的报道。

发明内容

本发明的目的是为了克服现有技术中的上述缺陷，提供一种测定浮法盖 板玻璃片锡面厚度及锡面中锡含量的方法。

为了实现上述目的，本发明提供了一种测定浮法盖板玻璃片锡面厚度及 锡面中锡含量的方法，该方法包括：

(1)将多个相同的待测浮法盖板玻璃片称重，然后将各待测浮法盖板 玻璃片的非锡面和四周进行密封处理，并测量密封后各待测浮法盖板玻璃片 的锡面的长和宽，得到侵蚀面积；

(2)将步骤(1)得到的各待测浮法盖板玻璃片分别置于各自独立的相 同侵蚀性介质中进行侵蚀处理，每间隔一段时间取出一个待测浮法盖板玻璃 片，得到侵蚀液，然后将该待测浮法盖板玻璃片进行清洗、烘干，得到清洗 液，并将烘干后的玻璃片进行称重，将侵蚀液和清洗液混合、定容后测定定 容液的锡含量；

(3)连续地取出待测浮法盖板玻璃片和测定，直至相邻两次得到的定 容液的锡含量测定差值与该相邻两次中的前一次得到的定容液的锡含量测 定值的比值不大于3‰，以该相邻两次中的后一次取出的待测浮法盖板玻璃 片作为测定基准，根据该待测浮法盖板玻璃片侵蚀前后的质量差和侵蚀面积 确定锡面厚度，根据该待测浮法盖板玻璃片侵蚀前后的质量差和测定的定容 液的锡含量确定锡面中的锡含量。

本发明的方法，操作简单，分析快速准确。根据本发明方法测定的浮法 盖板玻璃片锡面厚度及锡面中锡含量，能够对后续抛光处理和化学强化处理 以及上游玻璃生产时组分配方设计和具体生产工艺起有效的指导作用。

根据本发明的一种优选的实施方式，(1)利用氢氟酸作为侵蚀性介质进 行侵蚀处理，能够快速溶解玻璃表面的全部成分，使得检测结果真实可靠， (2)采用电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-OES)对定溶液中锡含量进行 检测分析，没有基体干扰，待测样只需一个，节省前处理时间，检测结果可 信度极高，(3)利用不同间隔的侵蚀时间能够准确计算出锡面厚度及锡面中 锡含量。

本发明的其它特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。

具体实施方式

以下对本发明的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描 述的具体实施方式仅用于说明和解释本发明，并不用于限制本发明。

本发明提供了一种测定浮法盖板玻璃片锡面厚度及锡面中锡含量的方 法，该方法包括：

(1)将多个相同的待测浮法盖板玻璃片称重，然后将各待测浮法盖板 玻璃片的非锡面和四周进行密封处理，并测量密封后各待测浮法盖板玻璃片 的锡面的长和宽，得到侵蚀面积；

(2)将步骤(1)得到的各待测浮法盖板玻璃片分别置于各自独立的相 同侵蚀性介质中进行侵蚀处理，每间隔一段时间取出一个待测浮法盖板玻璃 片，得到侵蚀液，然后将该待测浮法盖板玻璃片进行清洗、烘干，得到清洗 液，并将烘干后的玻璃片进行称重，将侵蚀液和清洗液混合、定容后测定定 容液的锡含量；

(3)连续地取出待测浮法盖板玻璃片和测定，直至相邻两次得到的定 容液的锡含量测定差值与该相邻两次中的前一次得到的定容液的锡含量测 定值的比值不大于3‰(即(C_后-C_前)/C_前不大于3‰，C_前、C_后分别为前后两 次得到的定容液的锡含量测定值)，以该相邻两次中的后一次取出的待测浮 法盖板玻璃片作为测定基准，根据该待测浮法盖板玻璃片侵蚀前后的质量差 和侵蚀面积确定锡面厚度，根据该待测浮法盖板玻璃片侵蚀前后的质量差和 测定的定容液的锡含量确定锡面中的锡含量。