[发明专利]一种测定浮法盖板玻璃片锡面厚度及锡面中锡含量的方法

权利要求书

1.一种测定浮法盖板玻璃片锡面厚度及锡面中锡含量的方法，其特征 在于，该方法包括：

(1)将多个相同的待测浮法盖板玻璃片称重，然后将各待测浮法盖板 玻璃片的非锡面和四周进行密封处理，并测量密封后各待测浮法盖板玻璃片 的锡面的长和宽，得到侵蚀面积；

(2)将步骤(1)得到的各待测浮法盖板玻璃片分别置于各自独立的相 同侵蚀性介质中进行侵蚀处理，每间隔一段时间取出一个待测浮法盖板玻璃 片，得到侵蚀液，然后将该待测浮法盖板玻璃片进行清洗、烘干，得到清洗 液，并将烘干后的玻璃片进行称重，将侵蚀液和清洗液混合、定容后测定定 容液的锡含量；

(3)连续地取出待测浮法盖板玻璃片和测定，直至相邻两次得到的定 容液的锡含量测定差值与该相邻两次中的前一次得到的定容液的锡含量测 定值的比值不大于3‰，以该相邻两次中的后一次取出的待测浮法盖板玻璃 片作为测定基准，根据该待测浮法盖板玻璃片侵蚀前后的质量差和侵蚀面积 确定锡面厚度，根据该待测浮法盖板玻璃片侵蚀前后的质量差和测定的定容 液的锡含量确定锡面中的锡含量。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，步骤(1)和步骤(2)中，使 用绝对精度分度值为0.1mg的电子天平进行称重。

3.根据权利要求1所述的方法，其中，步骤(1)中，使用螺旋测微仪 测量密封后各待测浮法盖板玻璃片的锡面的长和宽。

4.根据权利要求1所述的方法，其中，步骤(2)中，使用电感耦合等 离子体发射光谱仪测定定容液的锡含量。

5.根据权利要求1所述的方法，其中，步骤(1)中，所述多个相同的 待测浮法盖板玻璃片的个数为n，n≥6。

6.根据权利要求1所述的方法，其中，步骤(2)中，所述间隔一段时 间为间隔0.5-2min，优选为50-70秒。

7.根据权利要求1所述的方法，其中，步骤(2)中，所述侵蚀性介质 为硝酸溶液、盐酸溶液、硫酸溶液、氢氧化钾溶液、氢氧化钠溶液或氢氟酸， 优选为氢氟酸，进一步优选地，氢氟酸为优级纯氢氟酸，浓度为10-40wt％。

8.根据权利要求1所述的方法，其中，步骤(2)中，清洗的方式为用 去离子水进行超声波清洗，所述超声波清洗的条件包括：频率为50-80kHz， 时间为15-30min。

9.根据权利要求1所述的方法，其中，步骤(2)中，烘干的条件包括： 温度为70-100℃，时间为40-60min。

10.根据权利要求1所述的方法，其中，步骤(3)中，锡面厚度通过 下式I计算得到，以100ml的定容液计，锡面中锡的含量通过下式II计算得 到：

d＝[(m₀-m)/ρ/S]×10000，式I

w＝[C/10000/m₀-m]×100，式II

其中，d为锡面厚度，单位为μm，

m₀为侵蚀前的玻璃片的质量，单位为g，

m为侵蚀后的玻璃片的质量，单位为g，

ρ为玻璃片密度，单位为g/cm³，

S为侵蚀面积，单位为cm²，

w为锡面中的锡含量，单位为％，

C为测定的定容液的锡含量，单位为mg/L。