[发明专利]一种非接触智能卡测试装置

说明书

本发明公开了一种非接触智能卡测试装置，包括：成品台、速度调节装置、角度调节装置、高度调节装置和读卡器组合，其中，所述成品台，用于支持非接触智能卡产品的模块形态及卡片形态的产品测试；所述速度调节装置、角度调节装置、高度调节装置，分别用于对所述成品台进行相对于所述读卡器组合的距离、角度和/或进场离场速度调节；所述读卡器组合，包括纯非接读卡器和双界面读卡器以及支持非接智能卡读取的机具，用于读取模块形态和/或卡片形态的非接触智能卡。本发明能够涵盖非接触智能卡的功能及性能测试，通过角度、高度、进场速度等方面控制，实现非接触智能卡的多维度测试，提高非接触智能卡产品的测试覆盖率。

技术领域

本发明涉及测试技术领域，尤指一种非接触智能卡测试装置。

背景技术

非接触智能卡产品，具有传输速度快，交易时间短等特点，特别适用于使用环境恶劣，要求响应速度快、安全性高、功能需求复杂的场合。集成电路在生产中为了保证质量，需要尽可能的提高测试覆盖率。

现有的非接触智能卡测试需要涉及到下面几方面问题：

非接触智能卡的实场RF性能测试不能支持模块状态，必须封装为卡状态；

非接触智能卡的RF性能测试不能够支持多种读卡器类型，多模块，多频次，多角度，多距离，多速度等组合同测；

非接触智能卡产品的兼容性测试；

自动化测试。

目前市场上的非接触智能卡产品测试设备，一部分针对模块形式的产品测试，一部分针对卡片形式的产品测试，且测试功能主要集中在产品电性能及产品本身特点测试，不能模拟实场使用环境，且测试装置不能兼容模块及卡片形式的非接触智能卡产品同测。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种非接触智能卡测试装置，能够涵盖非接触智能卡的功能及性能测试，通过角度、高度、进场速度等方面控制，实现非接触智能卡的多维度测试，提高非接触智能卡产品的测试覆盖率。

为了达到本发明目的，本发明提供了一种非接触智能卡测试装置，包括：成品台、速度调节装置、角度调节装置、高度调节装置和读卡器组合，其中，所述成品台，用于支持非接触智能卡产品的模块形态及卡片形态的产品测试；所述速度调节装置、角度调节装置、高度调节装置，分别用于对所述成品台进行相对于所述读卡器组合的距离、角度和/或进场离场速度调节；所述读卡器组合，包括纯非接读卡器或双界面读卡器或支持非接触智能卡读取的机具，用于读取模块形态和/或卡片形态的非接触智能卡。

进一步地，所述成品台，通过更换台面来支持非接触智能卡产品的模块形态及卡片形态的产品测试。

进一步地，通过单独控制或组合控制所述速度调节装置、角度调节装置和高度调节装置，实现对所述成品台进行相对于所述读卡器组合的距离、角度和/或进场离场速度调节。

进一步地，所述非接读卡器是纯非接读卡器或双界面读卡器或专用非接产品测试设备。

进一步地，所述非接触智能卡测试装置采用丝扛传动、齿轮齿条传动，通过多轴联动、以及程控装置，实现可编程控制的自动测试。

与现有技术相比，本发明的测试方案可支持非接触智能卡产品的模块形态及卡片形态的产品测试，可兼容两种形态的产品测试；可模拟实场使用环境进行测试，例如模拟刷卡高度、角度以及进场速度；并可以组合上述条件进行产品功能测试；此外，还可以扩展工作站，支持非接触智能卡产品小批量自动化测试。

本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

附图说明