[发明专利]一种非接触智能卡测试装置有效
| 申请号： | 201510967077.0 | 申请日： | 2015-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN105629099B | 公开（公告）日： | 2019-06-07 |
| 发明（设计）人： | 刘硕;雷黎丽 | 申请（专利权）人： | 大唐微电子技术有限公司;大唐半导体设计有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 胡艳华;栗若木 |
| 地址： | 100094*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 接触 智能卡 测试 装置 | ||
1.一种非接触智能卡测试装置，其特征在于，包括：成品台、速度调节装置、角度调节装置、高度调节装置和读卡器组合，其中，
所述成品台，用于通过更换台面支持非接触智能卡产品的模块形态及卡片形态的产品测试，成品台下方放置各型号或各类非接触读卡器；
所述高度调节装置、角度调节装置、速度调节装置，分别用于对所述成品台进行相对于所述读卡器组合的距离、角度和/或进场离场速度调节；
所述读卡器组合，包括纯非接读卡器、双界面读卡器和支持非接触智能卡读取的机具，用于读取模块形态或卡片形态的非接触智能卡；
通过组合控制所述高度调节装置、角度调节装置和速度调节装置，实现对所述成品台进行相对于所述读卡器组合的距离、角度和/或进场离场速度调节。
2.根据权利要求1所述的非接触智能卡测试装置，其特征在于，
测试模块类非接触智能卡时，将卷带状的IC卡模块放置在测试装置上，支持32个模块同测头，测试头的另一端连接标准天线板，天线板放置在成品台上；
测试卡片类非接触智能卡时，将卡片类非接触产品放置在成品台上。
3.根据权利要求1所述的非接触智能卡测试装置，其特征在于，非接读卡器包括单面非接读卡器或双面非接读卡器。
4.根据权利要求1～3中任一项所述的非接触智能卡测试装置，其特征在于，所述非接触智能卡测试装置采用丝杠传动、齿轮齿条传动，通过多轴联动以及程控装置，实现可编程控制的自动测试。
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