[发明专利]测斜仪综合误差测试装置及测量方法

权利要求书

1.一种测斜仪综合误差测量方法，其特征在于，所述测斜仪综合误差测量方法包括以下步骤：

步骤1，将测斜仪测头放置在带有导槽的测斜仪工况模拟装置中，调整测斜仪测头的工作倾角处于位置A；

步骤2，控制测斜仪测头沿导槽向上提升，在测斜仪测头向上提升过程中，采用分段提升和测量，并对所述测斜仪测头进行正反两次测量，通过测头滑动距离测量装置和倾角测量装置测量并得到位置A下的基准累计位移值ΔA_total，所述基准累计位移值ΔA_total根据计算，其中L为测头导轮间距基准，L为500mm；θ_Ai为A位置下倾角测量装置给出的每个测量段的倾角，并且为正反两次测量的平均值；N为测量段数；

步骤3，通过测斜仪测头测量并得到位置A下的初测累计位移值Δ′A_total，所述初测累计位移值Δ′A_total根据计算，其中L_A1i为A位置下测斜仪正方向测量的位移读数；L_A2i为A位置下测斜仪反方向测量的位移读数；

步骤4，调整测斜仪测头的工作倾角处于位置B；

步骤5，控制测斜仪测头沿导槽向上提升，在测斜仪测头向上提升过程中，采用分段提升和测量，并对所述测斜仪测头进行正反两次测量，通过测头滑动距离测量装置和倾角测量装置测量并得到位置B下的基准累计位移值ΔB_total，所述基准累计位移值ΔB_total根据计算，其中θ_Bi为B位置下倾角测量装置给出的每个测量段的倾角，并且为正反两次测量的平均值；

步骤6，通过测斜仪测头测量并得到位置B下的累计位移值Δ′B_total，所述累计位移值Δ′B_total根据计算，其中L_B1i为B位置下测斜仪正方向测量的位移值；L_B2i为B位置下测斜仪反方向测量的位移值；

步骤7，根据步骤2、3、5、6得到的测量结果，计算得到测斜仪在测孔N×L深度下的综合误差E，所述测斜仪的综合误差E根据E＝(Δ′_total-Δ_total)计算，其中Δ'_total＝Δ'B_total-Δ'A_total，Δ_total＝ΔB_total-ΔA_total。

2.一种测斜仪综合误差测试装置，其特征在于：所述测斜仪综合误差测试装置采用如权利要求1所述的测斜仪综合误差测量方法进行综合误差测量；所述测斜仪综合误差测试装置包括：测斜仪工况模拟装置(1)、测头滑动距离测量装置(2)和倾角测量装置(3)，

所述测斜仪工况模拟装置(1)，用于容纳测斜仪测头(5)，供其上下滑动模拟工作状态；

所述测头滑动距离测量装置(2)，用于测量测斜仪测头(5)的滑动距离；

倾角测量装置(3)，用于测量测斜仪测头(5)的精确角度偏移。

3.根据权利要求2所述的一种测斜仪综合误差测试装置，其特征在于还包括平台(4)，所述测斜仪工况模拟装置(1)固定在平台(4)上，且倾角可调。

4.根据权利要求3所述的一种测斜仪综合误差测试装置，其特征在于所述测斜仪工况模拟装置(1)包括测试架(11)和提升装置(12)；所述测试架(11)的主体由带导槽(111)的槽体(112)构成，所述导槽(111)为测斜仪测头(5)的导轮(51)提供滚动轨道；所述提升装置(12)包括驱动装置和连接装置，所述驱动装置通过连接装置带动测斜仪测头(5)沿导槽(111)滑动。