[发明专利]一种非接触式弹体外径及键高自动测量设备有效
| 申请号: | 201510903981.5 | 申请日: | 2015-12-09 | 
| 公开(公告)号: | CN106855393B | 公开(公告)日: | 2019-03-19 | 
| 发明(设计)人: | 昌成刚;徐永利;徐志刚;赵光林;常建林;王文正 | 申请(专利权)人: | 中国科学院沈阳自动化研究所 | 
| 主分类号: | G01B11/08 | 分类号: | G01B11/08;G01B11/02 | 
| 代理公司: | 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 | 代理人: | 何丽英 | 
| 地址: | 110016 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 接触 弹体 外径 自动 测量 设备 | ||
本发明涉及炮弹的尺寸公差测量设备,具体地说是一种非接触式弹体外径及键高自动测量设备。包括工作台底座、二级移动部件、压紧部件、检测部件、浮动托盘部件及径向定位及驱动部件,其中工作台底座上设有二级移动部件、检测部件及径向定位及驱动部件,检测部件及径向定位及驱动部件位于二级移动部件的一端,压紧部件和浮动托盘部件设置于二级移动部件上;二级移动部件将放置工件的浮动托盘部件传送至所述检测部件的下方,压紧部件将工件压紧,工件通过径向定位及驱动部件定位及驱动旋转,检测部件对工件进行测量。本发明具有结构可靠、稳定性高、分辨率高、测量快速、操作安全等优点,可以自动快速完成对不同弹体外径及键高的非接触测量。
技术领域
本发明涉及炮弹的尺寸公差测量设备,具体地说是一种非接触式弹体外径及键高自动测量设备。
背景技术
目前,我国炮弹生产线上弹体的外径及键高主要采用人工测量的方法,使用游标卡尺、千分尺和卡规等进行接触测量。这种人工测量方法效率低,存在安全隐患,对弹体容易造成划伤,且易受人为因素的影响,不能满足武器装备现代化生产需求。因此迫切需要研制一种新型大尺寸、高精度、非接触式的弹体测量设备,对提高炮弹的生产质量和生产效率具有重要意义。
发明内容
针对上述问题,本发明的目的在于提供一种非接触式弹体外径及键高测量设备。该测量设备能够适应不同炮弹的径向尺寸公差测量。
为了实现上述目的,本发明采用以下技术方案:
一种非接触式弹体外径及键高自动测量设备,包括工作台底座、二级移动部件、压紧部件、检测部件、浮动托盘部件及径向定位及驱动部件,其中工作台底座上设有二级移动部件、检测部件及径向定位及驱动部件,所述检测部件及径向定位及驱动部件位于二级移动部件的一端,所述压紧部件和浮动托盘部件设置于二级移动部件上;所述二级移动部件将放置工件的浮动托盘部件传送至所述检测部件的下方,所述压紧部件将工件压紧,使工件与径向定位及驱动部件配合定位,工件通过径向定位及驱动部件驱动旋转,所述检测部件对工件进行测量。
所述二级移动部件包括上层滑台驱动机构和下层滑台驱动机构,所述上层滑台驱动机构可相对滑动地安装在下层滑台驱动机构的上方,所述上层滑台驱动机构和下层滑台驱动机构的滑动方向平行,所述浮动托盘部件设置于下层滑台驱动机构上,所述压紧部件设置于上层滑台驱动机构上。
所述下层滑台驱动机构包括移动部件底座、下层轨道、下层轨道滑块及下层滑台,其中移动部件底座安装在所述工作台底座上,所述移动部件底座上设有下层轨道和下层滑台驱动机构,所述下层滑台通过下层轨道滑块与下层轨道滑动连接,所述下层滑台驱动机构的输出轴与下层滑台固连;
所述上层滑台驱动机构包括上层轨道、上层轨道滑块、上层滑台、上层滑台驱动机构及下层滑台驱动机构,其中上层轨道和上层滑台驱动机构设置于下层滑台上,所述上层滑台通过上层轨道滑块与上层轨道滑动连接,所述上层滑台驱动机构的输出轴与上层滑台连接。
所述上层轨道与下层轨道平行,所述浮动托盘部件设置于下层滑台上,所述压紧部件设置于上层滑台上;与所述上层滑台驱动机构连接的电缆通过拖链a与移动部件底座连接。
所述浮动托盘部件包括扶正机构、对中机构、托盘、托板、浮动支撑及托盘底座,其中托盘底座设置于所述二级移动部件中的下层滑台驱动机构上,所述托盘嵌设于托盘底座内、并通过设置于托盘底部的浮动支撑来支撑,所述托盘底座上沿周向设有多个用于对托盘进行对中的对中机构,所述托盘底座的上端对称设有扶正机构,所述扶正机构用于对放置与托盘内的工件进行扶正。
所述浮动支撑为万向钢球,所述对中机构包括对中气缸和对中头,所述对中气缸设置于所述托盘底座上的安装槽内、并输出端连接有对中头;所述扶正机构包括扶正夹爪、扶正气缸支架及扶正气缸,其中扶正气缸通过扶正气缸支架安装在托盘底座的上端,所述扶正夹爪设置于扶正气缸的输出轴上。
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