[发明专利]基于频域分析的傅里叶光谱数据线性滤波处理方法在审
| 申请号： | 201510887218.8 | 申请日： | 2015-12-04 |
| 公开（公告）号： | CN105509888A | 公开（公告）日： | 2016-04-20 |
| 发明（设计）人： | 刘舒扬;周涛;贾晓东;苏建忠 | 申请（专利权）人： | 天津津航技术物理研究所 |
| 主分类号： | G01J3/45 | 分类号： | G01J3/45 |
| 代理公司： | 中国兵器工业集团公司专利中心 11011 | 代理人： | 刘东升 |
| 地址： | 300308 天津市*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 基于 分析 傅里叶 光谱 数据 线性 滤波 处理 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种基于频域分析的傅里叶光谱数据线性滤波处理方法，其 特征在于，包括以下步骤：
S1、对采集的干涉图进行数据预处理；
S2、针对目标波长生成光谱图域内的矩形滤波器，并对其做傅里 叶变换，得到光程差-干涉强度内的滤波器，用光程差-干涉强度内的 滤波器对预处理后的数据进行滤波；
S3、对于滤波后的数据，利用切趾法，通过加窗来缓和边缘的不 连续性，使旁瓣的高度趋近于零，从而使能量相对集中在主瓣；
S4、对步骤S3处理后的数据进行相位校正，以消除傅里叶光谱 仪干涉图测量中所引起的非对称性；
S5、将干涉图数据补零至2N个；
S6、通过傅里叶变换将经过步骤S1至S5处理后的干涉图转换为 光谱图。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤S1具体包括消 除趋势项步骤和抑制随机噪声干扰步骤。
3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤S3中采用三角 窗、梯形窗、Hanning窗、布莱克曼窗、高斯函数和Norton-Beer函 数中的一种进行加窗处理。
4.如权利要求1或2或3所述的方法，其特征在于，步骤S4中 采用Connes求平方根法、Mertz乘积法和Forman卷积法中的一种进 行相位校正。
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- 魏儒义;胡炳樑;李洪波;张智南;于建冬;王飞橙;于涛;高晓惠 - 中国科学院西安光学精密机械研究所
- 2017-03-10 - 2019-01-22 - G01J3/45
- 本发明提出一种高通量高稳定相干色散光谱成像装置，该装置包括依次设置的共光路干涉分光光路、色散分光光路以及光电探测器；所述共光路干涉分光光路采用非对称结构的共光路Sagnac干涉仪，使得最终经共光路Sagnac干涉仪中分束面返回的光束不再与入射光束重合，而是在空间上平行分离；在二次分光前的光路上对应于空间上平行分离的光束还设置有光程调节结构，使得两路一级光束最终产生光程差，以干涉光束出射；其中一路干涉光束经会聚后到狭缝上，该狭缝成为色散分光光路的入射像面位置；另一路干涉光束即所述最终经共光路Sagnac干涉仪中分束面返回的光束也经会聚后进入色散分光光路。
- 时间调制型傅里叶变换光谱仪的双向干涉图协同使用方法-201710353389.1
- 郭玲玲;赵其昌;马文佳;杨勇;吴泽鹏;李叶飞;杨春燕;于淼 - 上海卫星工程研究所
- 2017-05-18 - 2019-01-18 - G01J3/45
- 本发明公开了一种时间调制型傅里叶变换光谱仪的双向干涉图协同使用方法，其包括：步骤一，将反向干涉图序列进行逆序；步骤二，对正向干涉图序列和反向干涉图逆序后的干涉图序列进行三次样条插值；步骤三，分别搜索插值后两组序列的绝对值最大值对应位置，并按照两组序列绝对值最大值对应位置的差异，将经过逆序、插值后的反向干涉图进行移位；步骤四，将经过前三步骤处理后的反向干涉图进行抽样和截取，并对原始正向干涉图进行截取处理。本发明方法合理、实施简易，可以有效应用于时间调制型傅里叶变换光谱仪的双向干涉图的协同使用。
- 基于受激布里渊散射边带整形的光谱测量方法及装置-201811016992.1
- 薛敏;朱贝贝;陈维;潘时龙 - 南京航空航天大学
- 2018-09-03 - 2019-01-11 - G01J3/45
- 本发明公开了一种基于受激布里渊散射边带整形的光谱测量方法。将第一微波扫频信号调制于窄线宽光载波，生成载波抑制的光单边带调制信号；对该光单边带调制信号进行基于受激布里渊散射（SBS）的边带整形；以边带整形后的光单边带调制信号作为光本振信号，使用基于微波扫频源和相干光电探测的光谱测量方法对待测光信号的光谱进行测量。本发明还公开了一种基于SBS边带整形的光谱测量装置。本发明在现有基于扫频光源和相干光电探测的光谱测量方法基础上，利用SBS的窄带增益效果放大扫频边带，同时利用其衰减效果抑制残留边带，提高边带抑制比，实现了大动态范围的光谱测量。
- 高通量宽谱段高分辨率的相干色散光谱成像装置-201820728778.8
- 陈莎莎;魏儒义;严强强;吴银花 - 中国科学院西安光学精密机械研究所
- 2018-05-16 - 2018-12-21 - G01J3/45
- 本实用新型属于光谱成像领域，涉及一种高通量宽谱段高分辨率的相干色散光谱成像装置。包括沿光路依次设置的第一准直系统、第一光栅、第一透镜、像切分器、第二透镜、广角迈克尔逊干涉仪、柱透镜、狭缝、第二准直系统、第二光栅、成像镜及光电探测器；所述狭缝位于柱透镜的焦点处；解决了传统的高精度交叉色散阶梯光栅光谱仪和相干色散光谱仪这两种光谱成像方法中存在的光通量低、光电探测器靶面大小限制光谱展宽、光谱范围越宽条纹对比度越差、高的光谱分辨率会使光电探测器单个像元信噪比减小、交叉色散引起光谱谱线弯曲等问题。
- 一种全光纤干涉仪自由光谱范围测量系统及方法-201810985909.5
- 叶全意;高英杰;王徐啸 - 金陵科技学院
- 2018-08-28 - 2018-12-07 - G01J3/45
- 本发明公开了一种全光纤干涉仪自由光谱范围测量系统及方法，利用矢量网络分析仪测量信号发生器输入的微波信号和光电探测器输出微波信号的S21参数特性，将全光纤Mach‑Zehnder干涉仪的自由光谱范围的转换为微波信号的S21参数的等间隔梳状频谱，通过矢量网络分析仪S21参数观察计算全光纤Mach‑Zehnder干涉仪的自由光谱范围。本发明简化了全光纤Mach‑Zehnder干涉仪的自由光谱范围测量系统的复杂性，减小了系统的成本，而且操作步骤简单。
- 专利分类
- 数据显示系统、数据中继设备、数据中继方法、数据系统、接收设备和数据读取方法
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