[发明专利]电子元件分类料盒落料方法及料盒装置有效

专利信息
申请号: 201510880311.6 申请日: 2015-12-03
公开(公告)号: CN105966732B 公开(公告)日: 2018-02-13
发明(设计)人: 陈荣宗;林芳旭;王安田;黄建桦 申请(专利权)人: 万润科技股份有限公司
主分类号: B65D25/02 分类号: B65D25/02;B65D85/30
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司31100 代理人: 孙英杰,陈亮
地址: 中国台湾高雄*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 电子元件 分类 料盒防落料 受损 方法 装置
【说明书】:

技术领域

发明是有关于落料方法及料盒装置,尤指一种在电子元件分选分类过程中,对用以进行电子元件分类收集时,防止受测元件落入料盒时受损的电子元件分类料盒落料方法及料盒装置。

背景技术

一般电子元件由于具有不同的物理特性,故常需经由检测、分选的程序来进行包装或分类,由于电子元件的微细化及量大属性,用于作检测、分选的装置必须提供迅速而精确的搬送,这些被检测、分选的电子元件例如被动元件或LED发光二极管。

现有技术在进行检测时,常采用可作间歇旋转的测盘,在测盘周缘环列布设等间距凹设的载槽,借以自震动送料机的输送槽道承载受检测元件以间歇性旋转流路搬送,历经多个检测站的程序后依其检测出的物理特性,并经由一具有X、Y轴向位移分类的分选机构,或经由类同前述测盘具有周缘环列布设等间距凹设的载槽的转盘的分类机构,依受测元件的检测结果进行分类,并予以利用气压吹送排出至不同的分类管,以输送至特定的料盒进行收集;这些料盒有多个,并以矩阵方式排列成矩形,而共同设于一分类收集装置的一抽屉中,各料盒并可同时借抽屉被抽移而进出该分类收集装置,各料盒并可同步被向上扬升,以使上方开口被顶抵封闭,防止受测元件在气压吹送过程中,由料盒上方开口的余隙被抛落。

现有技术中,受测元件依检测结果进行分类,并排出至不同的分类管时是以气压进行吹送,以输送至特定的料盒进行收集,由于受测元件在落入料盒时,气压所形成的冲力使受测元件易在落下时碰触料盒内缘或底部时造成损伤,虽曾有在料盒内设翘翘板的缓冲片以降低落料冲击受损,但实作上构造制作不易、成本高且效果不理想。另,在分类管进入料盒前即将气压溢散的设计亦曾被引用,但其采用在一束套分类管的轴套上开设多数孔洞的方式,成本相当高,亦未实用;另外,受测元件常为具有静电或经粘性材料粘覆制程的电子元件,例如LED发光二极管,此等受测元件易在落入料盒时,与料盒内缘或底部粘附,使在自料盒倒出时无法全部倒出,造成取用处理的麻烦。

发明内容

本发明的目的在于提供一种可防止受测元件落入料盒时受损的电子元件分类料盒装置。

本发明的另一目的在于提供一种可防止受测元件落入料盒时受损的电子元件分类料盒装置。

本发明的又一目的在于提供一种用以执行如所述电子元件分类料盒落料方法的装置。

依据本发明目的的电子元件分类料盒落料方法,包括:提供承收一检测机构完成检测排出而经分类管传送来的受测元件的分类收集装置,该分类收集装置上设有多个料盒进行收集受测元件;该受测元件是以气压推送经覆盖该料盒的一盒体上方开口处的一盒盖上通孔进入该料盒;使一缓冲件设于该盒盖,其表面长度向该通孔正下方延伸,并使该缓冲件表面与该通孔形成的气压推送该受测元件进入该料盒的该盒体中的通道中心轴线呈一倾斜状态。

依据本发明另一目的的电子元件分类料盒装置,包括:

一料盒,用以承收一检测机构完成检测排出而经分类管传送来的受测元件,其包括一盒体,盒体上方具有一开口;一盒盖,覆盖于该盒体的开口上;盒盖上设有一镂空的通孔,其形成一气压推送受测元件进入料盒的盒体中的通道,盒盖下方的通孔外部的一侧固设有一缓冲件,其为一片状体;缓冲件表面与通孔形成的气压推送受测元件进入料盒的盒体中的通道中心轴线呈一倾斜状态。

依据本发明又一目的的电子元件分类料盒装置,包括:用以执行如所述电子元件分类料盒落料方法的装置。

本发明实施例的电子元件分类料盒落料方法及装置,由于受测元件由盒盖的通孔受气压推送进入料盒的盒体中时,先经缓冲件减轻冲力再落入盒体中,落下过程中当受测元件碰触内缘间隔构造的立设第一浮凸部或底部的第二浮凸部时,由于供与受测元件接触的浮凸部位与料盒的内缘表面间形成间隔,使受测元件落入料盒时受该间隔构造阻隔,而与料盒的内缘表面具有较小的接触面积,使具有静电或经粘性材料粘覆制程的电子元件,例如LED发光二极管不易与料盒之内缘表面间粘附,使受测元件在自料盒倒出时可以全部倒出,取用处理极为方便。而气压自盒盖的通孔进入盒体中时,其充满盒体内部时,可以由盒盖表面的多个镂空气孔溢散,借此可以降低在盒体内部的气体压力,使落于盒体内部的受测元件稳定的留置在料盒内。

附图说明

为让本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂,以下结合附图对本发明的具体实施方式作详细说明,其中:

图1是本发明实施例所应用的电子元件检测分类设备实施例的立体示意图。

图2是本发明实施例所应用的电子元件检测分类设备实施例的分类收集装置示意图。

图3是本发明实施例的立体分解示意图。

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