[发明专利]瓜上10种病害的微阵列芯片检测方法及所用芯片探针在审

专利信息
申请号: 201510870253.9 申请日: 2015-12-02
公开(公告)号: CN105297141A 公开(公告)日: 2016-02-03
发明(设计)人: 王翀;高全;孙燕飞;雷勇辉;张小菊;李亚伟;张祥林;张伟;巴哈提古丽·马那提拜 申请(专利权)人: 新疆出入境检验检疫局检验检疫技术中心
主分类号: C40B40/06 分类号: C40B40/06;C12Q1/70;C12Q1/68;C12Q1/04
代理公司: 杭州中成专利事务所有限公司 33212 代理人: 金祺
地址: 830046 新疆维吾*** 国省代码: 新疆;65
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摘要:
搜索关键词: 10 病害 阵列 芯片 检测 方法 所用 探针
【权利要求书】:

1.瓜上10种病害的微阵列芯片,其特征是:所述芯片包含如下寡核苷酸探针中的至少一类;

瓜蔓枯病菌Db-Px:CCATTGTAAGCCGCTGTTGTTGAGAAGTGAAA;

甜瓜黑点根腐病菌Mc-Px:CCACAACTACAGGGTAGCTACCGGGTAGGCTACTCTAGAGT;

瓜炭疽病菌T-GAPDHx:CGTAATGCCAGAGATCCCGGGAAGAGGA;

瓜炭疽病菌T-GSx:CTGACAGAACTGGACCAGACGTGCAATACCC;

瓜细菌性果斑病菌aac-Px:AAGAGGATCGTTCGAGAGAAGCGGCCTTC;

黄瓜黑色根腐病菌Phs-Px:CATCAGGTTGTTTTGTCGGGTGTGTGTGTG;

黄瓜黑星病菌Cc-Px:TGTCCAGCGTGTGGTGGAGGGTG;

瓜细菌性角斑病菌Psl-px:GCCATGCCGGTGAGTTTGCCTGC;

黄瓜花叶病毒CMV-Px:AGCGGGACGCGGAAGAACTCCCG;

南瓜花叶病毒SqMV-Px:GAACTGGGAAAGAAGCCACAACAAAACCCAGA;

黄瓜绿斑驳花叶病毒Cgmmv-Px:GGAGGTTTAGAATGCCGCTTACCACGACCAC。

2.利用权利要求1所述的芯片进行的瓜上10种病害的微阵列芯片检测方法,其特征是:

对每个待测样品依次进行以下步骤:

1)、提取待测样品的DNA;配置成浓度为5-20ng/μl作为模板;

2)、引物荧光标记PCR反应:

反应体系25μl:10×PCRBuffer2.5μl,25mMMgCl22.5μl,dNTP0.5μl,10μM上下游引物各0.5μl,5U/μlTaqDNA聚合酶0.2μl,模板1.0μl;

PCR反应程序:预变性94℃5min;94℃30s,55℃30s,72℃30s,共35个循环;最后72℃延伸10min;

上下游引物分别为以下:

瓜蔓枯病菌Db-3x:CGTAAGTAGACCTCCACCAC

Db-5x:CAAGGGAAGCGTGTCAT;

甜瓜黑点根腐病菌Mc-1x:CATTAAAGAGTTATCCAACTCC

Mc-2x:ATGATAATTATTCAGAAGTGCC;

瓜炭疽病菌GAPDH-3x:CCCTTCATTGAGACCAAGT

GAPDH-4x:GTACTTGAGCATGTAGGCCT;

瓜炭疽病菌GS-3x:TTCGTTCTCGAACACGAT;

GS-4x:GAGACATGACGACCTTGTTC;

瓜细菌性果斑病菌aac-1x:CTGGGAGCGATCTTCATC

aac-2x:GTCAGGAGGGTGAGTAGCA;

黄瓜黑色根腐病菌Phs-1x:CAACCACTCCCTCCCTT;

Phs-2x:GGCGGCTGTGTACAAGA;

黄瓜黑星病菌Cc-3x:ATCGAGAAGTTCGAGAAGG;

Cc-4x:GTGATACCACGCTCACG;

瓜细菌性角斑病菌Psl-1x:GGCGACGCAATCAATGAT;

Psl-2x:TTCTTCGGCGGTGGTTT;

黄瓜花叶病毒CMV-1x:TCCGAGGAATTAAATGTTGA;

CMV-2x:TCGCGTCACAGATGTCTAC;

南瓜花叶病毒SqMV-1x:ACTTTGAAGTGGCTGGAAA;

SqMV-2x:AGGCTTCTAAAGCGAACTG;

黄瓜绿斑驳花叶病毒Cgmmv-1x:CAGTTATAGGTCTAGGTCGCAG;

Cgmmv-2x:GAACATAAGAAGCACTAAACGC;

3)、将步骤2)所得的至少2种病菌对应的PCR扩增产物等体积混合;

4)、芯片杂交与洗涤:

将步骤2)所得的每种病菌对应的PCR扩增产物或者将步骤3)所得的混合物95℃变性5min,然后冰浴5min;得预处理后PCR扩增产物;

然后将上述预处理后PCR扩增产物进行芯片杂交与洗涤;所述芯片杂交为45℃杂交1h;

5)、芯片扫描,获得检测结果。

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