[发明专利]用于测量锥形孔斜度的量具

说明书

技术领域

本发明涉及一种锥形孔量具，特别是用于测量锥形孔斜度的量具。

背景技术

在机械加工中，也通常设有呈锥台状的孔。目前，圆锥角度的测量一般四种方式：配合法、投影法、直接法和间接法。配合法是采用标准锥度环规与加工出的圆锥体配合测量，用标准锥度塞规与加工出的圆锥孔配合测量，这种测量方式不能测量出具体的角度：投影法是将工件剖切后利用投影仪对圆锥面进行放大测量，这种方法需要将工件破坏后再检测，不适宜推广；直接法是用锥度环规来检测锥度，再用深度尺测量锥度的高度，测量时不方便，效率很低，同时产品尺寸一致性差；间接法是将角度测量转换为长度测量，利用三角函数关系计算得到圆锥角度，这种方式需要专业人员运算，测量也很麻烦。综上可以看出，现有的角度测量方式都比较复杂，且需要在测量出角度或锥度的高度后进行认为判断工件是否在加工角度或深度的公差范围内，判断人员需要记住这些公差范围，才能对其测量，容易引起误判。

发明内容

本发明的目的是为了解决现有角度测量用具测量方式比较麻烦，测量效率低且容易引起误判的问题，而提供的一种用于测量锥形孔斜度的量具。

为了实现上述目的，本发明所设计的用于测量锥形孔斜度的量具，它包括测量柱和套设在测量柱上且上端面与待测锥形孔的端面相平行的标块；所述测量柱由上圆柱体和下锥台体组成，在下锥台体上设有多根底面相平行并一一对应标记有相应高度值的深度标线，在上圆柱体从下至上依次设有相互平行的下限尺寸标记线、最佳尺寸标记线和上限尺寸标记线，所述下限尺寸标记线到测量柱底面之间的垂直距离应等于锥形孔设定纵向高度最小值加上标块纵向高度之和，且上限尺寸标记线和下限尺寸标记线之间的高度差应与锥形孔设定纵向高度公差值相等。测量时，将标块放置在待测量的工件上，然后将测量柱对准锥形孔，并同时套入标块内，使其下锥台体置于待测量工件的锥形孔内，然后观察下限尺寸标记线、最佳尺寸标记线、上限尺寸标记线与标块上端面的位置，如果标块上端面与下限尺寸标记线或上限尺寸标记线齐平，或置于下限尺寸标记线和上限尺寸标记线之间的位置，则所测量的工件锥形孔合格，反之，则不合格。

进一步的，在标块中部设有一用于套设测量柱的竖向通孔，在标块一侧设有一个与竖向通孔相连通的横向通孔，在该横向通孔内设有一顶紧螺栓；在测量柱的上圆柱体一侧设有一个与横向通孔相对应的凹槽，所述凹槽的纵向宽度大于横向通孔的直径。

进一步的，下限尺寸标记线、最佳尺寸标记线和上限尺寸标记线采用不同的颜色标记。

与现有技术相比，本发明得到的用于测量锥形孔斜度的量具具有如下优点：

1、测量方式简单，测量速度快，只需观测下限尺寸标记线、上限标记线与标块上端面之间的位置关系，即可判断尺寸是否在规定范围内。

2、通过在测量柱下方设置多根深度标线，使得测量时，采用同一测量柱即可测量出具有相同锥度、不同深度的锥形孔，其通用性能好，可重复利用。

附图说明

图1实施例中测量柱插入待测锥形孔内，进行测量时的结构示意图。

图中：测量柱1、上圆柱体11、下锥台体12、深度标线13、下限尺寸标记线14、最佳尺寸标记线15、上限尺寸标记线16、凹槽17、标块2、竖向通孔21、横向通孔22。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。

实施例：

本实施例提供的用于测量锥形孔斜度的量具，如图所示，它包括测量柱1和套设在测量柱1上且上端面与待测锥形孔的端面相平行的标块2；所述测量柱1由上圆柱体11和下锥台体12组成，在下锥台体12上设有多根底面相平行并一一对应标记有相应高度值的深度标线13，在上圆柱体11从下至上依次设有相互平行的下限尺寸标记线14、最佳尺寸标记线15和上限尺寸标记线16，所述下限尺寸标记线16到测量柱1底面之间的垂直距离应等于锥形孔设定纵向高度最小值加上标块纵向高度之和，且上限尺寸标记线14和下限尺寸标记线16之间的高度差应与锥形孔设定纵向高度公差值相等。测量时，将标块2放置在待测量的工件上，然后将测量柱1对准锥形孔，并同时套入标块2内，使其下锥台体12置于待测量工件的锥形孔内，然后观察下限尺寸标记线14、最佳尺寸标记线15、上限尺寸标记线16与标块上端面的位置，如果标块上端面与下限尺寸标记线14或上限尺寸标记线16齐平，或置于下限尺寸标记线14和上限尺寸标记线16之间的位置，则所测量的工件锥形孔合格，反之，则不合格。当需要精确的孔深值时，可通过观测与所测工件锥形孔上表面齐平的下锥台体12上深度标线13，该深度标线13的高度值即为该锥形孔的深度值。