[发明专利]一种带有面板测试电路的显示装置

说明书

本发明主要是关于显示器领域，是提出了一种带有面板测试电路的显示装置，在测试像素阵列的程序中可降低数据电压信号的衰减。包括位于所述基板上并设置在所述像素阵列周边的多个第一、第二类接口衬垫，并且所述面板测试电路具有晶体管,所述晶体管布置在所述基板上并位于所述像素阵列的周边，所述像素阵列中的多个数据线与所述第二类接口衬垫分别一对一地电性连接，施加在所述第一类接口衬垫的数据检测信号通过所述面板测试电路传输到所述第二类接口衬垫。

技术领域

本发明主要是关于显示器领域，更确切地说，是提出了一种带有面板测试电路的显示装置，在测试像素阵列的程序中可降低数据电压信号的衰减。

背景技术

在现有的面板检测方法中，面板检测电路布局在基板边缘的走线要从下方绕到像素阵列区域的上方提供信号，走线的电阻很大。而面板检测电路的一根线要驱动很多根的数据线，故而使得电阻电容体现出来负面的RC负载效应很大，当显示屏能够以较高的密度显示图像时，如果数据线上输入的是交流信号，过大的阻抗就会直接导致面板检测电路无法行之有效的驱动像素阵列的数据线。

例如已知的中国专利申请(CN1996443A)披露了一种显示装置及其测试电路，包含像素阵列、前端电路、测试电路以及使能电路，该测试电路用以测试该像素阵列，该使能电路根据一定电压以决定是否使能该测试电路。当该像素阵列测试完毕后，该定电压由该前端电路所提供以非使能该测试电路。该专利文献通过提供一定电压来决定使能电路是否能测试电路，并在测试完毕后，定电压持续的被提供但电压电位改变从而让使能电路在显示装置运行时呈现非使能状态。因此其披露的显示装置的像素阵列不会被测试电路以及使能电路影响而造成显示异常，并最终达到显示装置正常运行的目的，该公开文献没有涉及由于测试电路走线太长带来的阻抗过大问题的解决。

例如公开的中国专利申请(CN100580465C)披露了一种面板测试电路结构，该面板测试电路结构包含多条传输线及显示模块，传输线电性连接显示模块，每一个传输线包含一个输入部分、一个测试部分及一个输出部分，测试部分的两端分别电性连结输入部分以及输出部分，输出部分的一端电性连结于显示模块，而面板测试所使用的测试信号也经由一个测试电路板所提供并运用多个探针输入至测试部分并经由输出部分传输至显示模块。从而拥有不同架构、不同电路跨距、或者不同元件脚位的数目驱动模块的面板，皆可共用相同的探针以及测试电路板等相关的测试设备以进行面板测试，同样该公开文献没有涉及由于测试电路走线太长带来的阻抗过大问题的解决。

例如公开的美国专利申请(US2010073009 A1)披露了一种电子装置显示面板的测试电路，用以测试像素阵列，测试电路包括：多条测试信号线、多个测试信号传输单元、多条栅极线以及至少一个静电防护装置。测试信号传输单元群组包含多个对应测试信号线的测试信号传输单元，各测试信号传输单元群组分别对应耦合至测试信号线之一，以耦合至测试信号线及像素阵列，其中各测试信号传输单元包括至少一个传输门：栅极线耦合到至少一个传输门的栅极；以及至少一个静电防护装置耦合至栅极其中的二者。同样该公开文献没有涉及由于测试电路走线太长带来的阻抗过大问题的解决。

发明内容

在本发明的一个可选实施例中，提出了一种带有面板测试电路的显示装置，具有布局在基板上的像素阵列，可包括位于所述基板上并设置在所述像素阵列周边(如位于像素阵列的前侧等位置处)的多个第一、第二类接口衬垫，并且所述面板测试电路具有晶体管,所述晶体管布置在所述基板上并位于所述像素阵列的周边(可临近所述第一、第二类接口衬垫设置，如也可布置在像素阵列的前侧等位置处)，所述像素阵列中的多个数据线与所述第二类接口衬垫分别一对一地电性连接，施加在所述第一类接口衬垫的数据检测信号通过所述面板测试电路传输到所述第二类接口衬垫。