[发明专利]一种带有面板测试电路的显示装置

权利要求书

1.一种带有面板测试电路的显示装置，具有布局在基板上的像素阵列，其特征在于，包括位于所述基板上并设置在所述像素阵列周边的多个第一、第二类接口衬垫，所述第一类接口衬垫靠近所述第二类接口衬垫设置，并且所述面板测试电路具有晶体管,所述晶体管布置在所述基板上并仅位于所述第一类接口衬垫与所述第二类接口衬垫之间，所述像素阵列中的多个数据线与所述第二类接口衬垫分别一对一地电性连接，施加在所述第一类接口衬垫的数据检测信号通过所述面板测试电路传输到所述第二类接口衬垫；所述第一类接口衬垫仅设置连接所述第二类接口衬垫的连线；所述第二类接口衬垫为所述基板上现有的用于与柔性线路板输入输出端口连接的接口衬垫。

2.根据权利要求1所述的带有面板测试电路的显示装置，其特征在于，在所述面板测试电路中，每个所述晶体管都具有控制端、第一端和第二端，任意一个所述晶体管的所述第二端设置为连接到至少一个所述第一类接口衬垫，使所有的所述晶体管的所述第二端都接收由所述第一类接口衬垫所输入的一数据检测信号，而任意一个所述晶体管的所述第一端都对应连接到至少一个所述第二类接口衬垫。

3.根据权利要求2所述的带有面板测试电路的显示装置，其特征在于，任意一个所述晶体管的所述控制端设置为连接到至少一个所述第一类接口衬垫，使所有的所述晶体管的所述控制端都接收由所述第一类接口衬垫所输入的控制信号；以及

藉由所述控制信号同时驱动所有的所述晶体管，在一面板测试阶段，每条所述数据线通过与之连接的一个处于导通状态的所述晶体管而输入所述数据检测信号。

4.根据权利要求3所述的带有面板测试电路的显示装置，其特征在于，所述晶体管均是PMOS类型的薄膜晶体管，所述控制信号在面板测试阶段为逻辑低电平。

5.根据权利要求3所述的带有面板测试电路的显示装置，其特征在于，所述晶体管均是NMOS类型的薄膜晶体管，所述控制信号在面板测试阶段为逻辑高电平。

6.根据权利要求1所述的带有面板测试电路的显示装置，其特征在于，所述面板测试电路包括多个第一晶体管和多个预设晶体管组，且每个所述预设晶体管组均包括至少一个第二晶体管，且所述第一、第二晶体管各自都具有控制端、第一端和第二端；其中

每个所述预设晶体管组中所有的所述第二晶体管的所述第二端都连接到一个所述第一晶体管的第一端，且该预设晶体管组中的每个所述第二晶体管的所述第一端都对应连接到至少一个所述第二类接口衬垫上；以及

任意一个所述第一晶体管的所述第二端设置为至少连接到至少一个所述第一类接口衬垫，使所有的所述第一晶体管的所述第二端都接收由所述第一类接口衬垫所输入的一数据检测信号。

7.根据权利要求6所述的带有面板测试电路的显示装置，其特征在于，任意一个所述第一晶体管的所述控制端设置为至少连接到至少一个所述第一类接口衬垫，使所有的所述第一晶体管的所述控制端都接收由所述第一类接口衬垫所输入的第一控制信号；

而任意一个所述第二晶体管的所述控制端都接收一个第二驱动信号，藉由第二控制信号和所述第一控制信号同时驱动所有的所述第二晶体管和所述第一晶体管，在面板测试阶段，接通所有的所述第一晶体管，并使得每条所述数据线通过与之连接的一个处于导通状态的所述第二晶体管而输入所述数据检测信号。

8.根据权利要求7所述的带有面板测试电路的显示装置，其特征在于，所述第一晶体管均是同类型的薄膜晶体管，所述第二晶体管均是同类型的薄膜晶体管。

9.根据权利要求8所述的带有面板测试电路的显示装置，其特征在于，所述第一晶体管均是PMOS类型的薄膜晶体管，且所述第一控制信号在面板测试阶段为逻辑低电平；或者

所述第一晶体管均是NMOS类型的薄膜晶体管，且所述第一控制信号在面板测试阶段为逻辑高电平。

10.根据权利要求8所述的带有面板测试电路的显示装置，其特征在于，所述第二晶体管均是PMOS类型的薄膜晶体管，且所述第二控制信号在面板测试阶段为逻辑低电平；或者

所述第二晶体管均是NMOS类型的薄膜晶体管，且所述第二控制信号在面板测试阶段为逻辑高电平。