[发明专利]一种半成品电池片抗PID性能的测试方法

权利要求书

1.一种半成品电池片抗PID性能的测试方法，其特征在于，包括：

将半成品电池片水平放置；

在所述半成品电池片的表面上的多个位置点滴上去离子水；

观察所述去离子水自然扩散之后的形态；

根据所述形态判断所述半成品电池片的抗PID性能。

2.根据权利要求1所述的半成品电池片抗PID性能的测试方法，其特征在于，在所述半成品电池片的表面上的多个位置点滴上去离子水为：

利用滴管吸取至少1毫升去离子水，在所述半成品电池片的表面上的多个位置点以上1厘米的位置滴上所述去离子水。

3.根据权利要求2所述的半成品电池片抗PID性能的测试方法，其特征在于，在所述半成品电池片的表面上的多个位置点滴上去离子水为：

在所述半成品电池片的表面上的25个位置点滴上去离子水，且所述25个位置点在所述半成品电池片的表面均匀分布。

4.根据权利要求3所述的半成品电池片抗PID性能的测试方法，其特征在于，在所述半成品电池片的表面上的多个位置点滴上去离子水为：

在所述半成品电池片的表面上的每个所述位置点滴一滴去离子水，且所述一滴去离子水的体积范围为0.04毫升至0.05毫升。

5.根据权利要求1-4任一项所述的半成品电池片抗PID性能的测试方法，其特征在于，所述根据所述形态判断所述半成品电池片的抗PID性能为：

当所述去离子水的水滴直径不变，则判断所述半成品电池片的抗PID性能不合格。

6.根据权利要求5所述的半成品电池片抗PID性能的测试方法，其特征在于，所述根据所述形态判断所述半成品电池片的抗PID性能为：

当所述去离子水的水滴具有扩散形态，且所述水滴的边缘为锯齿状，则判断所述半成品电池片的抗PID性能不合格。

7.根据权利要求6所述的半成品电池片抗PID性能的测试方法，其特征在于，所述根据所述形态判断所述半成品电池片的抗PID性能为：

当所述去离子水的水滴具有扩散形态，且在5秒至10秒之后，各个所述位置点的所述水滴的直径不同，则判断所述半成品电池片的抗PID性能不合格。

8.根据权利要求7所述的半成品电池片抗PID性能的测试方法，其特征在于，所述根据所述形态判断所述半成品电池片的抗PID性能为：

当各个所述位置点的所述水滴具有扩散形态，且扩散直径相同，边缘平滑，则判断所述半成品电池片的抗PID性能合格。