[发明专利]一种基于硬度保留率的低压电缆剩余寿命快速检测方法在审
| 申请号: | 201510756739.X | 申请日: | 2015-11-09 |
| 公开(公告)号: | CN105388403A | 公开(公告)日: | 2016-03-09 |
| 发明(设计)人: | 王志强;孟晓凯;王进君;李国峰 | 申请(专利权)人: | 大连理工大学 |
| 主分类号: | G01R31/12 | 分类号: | G01R31/12 |
| 代理公司: | 大连理工大学专利中心 21200 | 代理人: | 梅洪玉 |
| 地址: | 116024 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 基于 硬度 保留 低压 电缆 剩余 寿命 快速 检测 方法 | ||
1.一种基于硬度保留率的低压电缆剩余寿命快速检测方法,其特征在于,主要包括以下步骤:
第一步,对低压电缆的绝缘材料进行加速老化试验,获取不同温度和老化时间下电缆绝缘材料的硬度值,并由公式(1)得到不同老化温度和老化时间下的硬度保留率值;
1)选取低压电缆绝缘材料的试验标准试样,将其制成哑铃型试样;
2)选取哑铃型试样加速老化温度,其中135℃为加速老化试验必选温度;每一个加速老化温度下的试验周期采用等差级数;
3)对哑铃型试样进行加速老化试验,将老化后的哑铃型试样在待测试环境下放置一定时间后,在每个加速老化温度和试验周期下测试哑铃型试样的硬度值;
4)由公式(1)得到不同老化温度和老化时间下的硬度保留率值;
式中,p为硬度保留率,X为老化后哑铃型试样的硬度值;
第二步,将不同加速老化温度和老化时间下的硬度保留率值平移到最低加速老化温度下,并对平移后的数值进行曲线拟合,得到基于硬度保留率的电缆老化方程,结合阿伦尼乌斯方程,得到基于硬度保留率的电缆寿命外推方程;
第三步,结合待测同类型电缆在实际工作过程中的硬度保留率值和工作温度,利用基于硬度保留率的电缆老化方程,得到当前硬度保留率对应于135℃下的老化时间,再利用基于硬度保留率的电缆寿命外推方程得出电缆在不同工作温度下剩余寿命的评估结果。
2.如权利要求1所述的一种基于硬度保留率的低压电缆剩余寿命快速检测方法,其特征在于,第一步1)中所述的哑铃型试样厚度为0.8mm-2.0mm,厚度差小于0.1mm。
3.如权利要求1或2所述的一种基于硬度保留率的低压电缆剩余寿命快速检测方法,其特征在于,第一步2)中所述的等差级数的取点为4~10个。
4.如权利要求1或2所述的一种基于硬度保留率的低压电缆剩余寿命快速检测方法,其特征在于,第一步3)中所述哑铃型试样在待测试环境下的放置时间为不少于16h,不超过6天。
5.如权利要求3所述的一种基于硬度保留率的低压电缆剩余寿命快速检测方法,其特征在于,第一步3)中所述哑铃型试样在待测试环境下的放置时间为不少于16h,不超过6天。
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