[发明专利]一种掩模板的检修方法

权利要求书

1.一种掩模板的检修方法，其特征在于，包括：

确定掩模板的金属镀层的异常位置，并确定所述异常位置的坐标；

对所述异常位置涂覆修复胶，以使涂胶平面与所述掩模板的正常金属镀层的平面齐平；其中，所述修复胶包括金属材料；

对所述修复胶进行固化。

2.根据权利要求1所述的掩模板的检修方法，其特征在于，对所述异常位置涂覆修复胶，包括：

对所述异常位置的异常程度进行判断，若所述异常程度大于预设值，则对所述异常位置涂覆修复胶。

3.根据权利要求2所述的掩模板的检修方法，其特征在于，对所述异常位置的异常程度进行判断，若所述异常程度大于预设值，则对所述异常位置涂覆修复胶，包括：

当所述异常位置位于所述金属镀层的非边缘区域时，对所述异常位置的所述金属镀层厚度进行判断，相对所述掩模板的正常金属镀层，若所述异常位置的所述金属镀层缺失的厚度大于预设值，则对所述异常位置涂覆修复胶；

当所述异常位置位于所述金属镀层的边缘区域时，对所述异常位置的宽度进行判断，若所述异常位置的宽度大于预设值，则对所述异常位置涂覆修复胶。

4.根据权利要求1所述的掩模板的检修方法，其特征在于，对所述异常位置涂覆修复胶，包括：

利用步进式点胶机找到所述异常位置的坐标，对所述异常位置涂覆修复胶。

5.根据权利要求1所述的掩模板的检修方法，其特征在于，对所述修复胶进行固化，包括：

将涂覆修复胶后的掩模板放入紫外光固化设备进行固化。

6.根据权利要求1所述的掩模板的检修方法，其特征在于，确定掩模板的金属镀层异常位置，并确定所述异常位置的坐标，包括：

利用红外探测器和光学成像物镜接收所述掩模板的红外辐射能量，获得红外热像图，以获得所述掩模板的温度分布场信息；

根据所述掩模板的温度分布场信息，确定掩模板的异常位置，并确定所述异常位置的坐标。

7.根据权利要求1所述的掩模板的检修方法，其特征在于，确定掩模板的金属镀层异常位置，并确定所述异常位置的坐标，包括：

利用所述掩模板对液晶显示面板的封框胶进行固化，并利用位于液晶显示面板下方的光强感知装置，判断所述液晶显示面板的显示区域是否有漏光，若有，则确定掩模板的异常位置，并确定所述异常位置的坐标。

8.根据权利要求7所述的掩模板的检修方法，其特征在于，所述方法还包括：停止利用所述掩模板对液晶显示面板的封框胶进行固化。

9.根据权利要求1-8任一项所述的掩模板的检修方法，其特征在于，在确定掩模板的异常位置之后，对所述异常位置涂覆修复胶之前，对所述掩模板进行清洗，并吹干。

10.根据权利要求1-8任一项所述的掩模板的检修方法，其特征在于，所述修复胶中的金属材料与所述掩模板的金属镀层的材料相同。