[发明专利]基于峰值法磁通门技术的探测磁致应变量的探头及方法

权利要求书

1.一种基于峰值法磁通门技术的探测磁致应变量的探头, 包括有激励线圈、磁芯主轴、检测线圈，其中漆包铜线绕制在激励线圈胶管上形成激励线圈，漆包铜线绕制在检测线圈胶管上形成检测线圈，磁芯主轴的两端分别插入激励线圈胶管的一端和检测线圈胶管的一端，其特征在于还包括有基板及固定件，固定件固定在基板上，激励线圈胶管的另一端固定在固定件上，激励线圈胶管固定在固定件上的这端不能运动，检测线圈胶管的另一端穿过固定件，检测线圈胶管穿过固定件的这端能自由水平移动，且检测线圈胶管能自由水平移动的这端与磁控形状记忆合金连接。

2.根据权利要求1所述的基于峰值法磁通门技术的探测磁致应变量的探头,其特征在于上述磁芯主轴由若干铁基非晶合金箔带迭合，再通过粘合剂粘结在一起，经硬化后制成。

3.根据权利要求2所述的基于峰值法磁通门技术的探测磁致应变量的探头,其特征在于上述铁基非晶合金箔带的表观成分为Fe₁₄Cu₁Nb₃Si₁₃B₉。

4.根据权利要求2所述的基于峰值法磁通门技术的探测磁致应变量的探头,其特征在于上述铁基非晶合金箔带置于温度为250°C的炉子中保温20分钟，空冷至室温后迭合、粘结、硬化，制成磁芯主轴。

5.根据权利要求1所述的基于峰值法磁通门技术的探测磁致应变量的探头,其特征在于上述漆包铜线的直径为0.4毫米。

6.根据权利要求1所述的基于峰值法磁通门技术的探测磁致应变量的探头,其特征在于上述激励线圈胶管及检测线圈胶管的半径为2.5mm。

7.根据权利要求1至6任一项所述的基于峰值法磁通门技术的探测磁致应变量的探头,其特征在于上述漆包铜线分别绕制100-600圈在激励线圈胶管及检测线圈胶管上形成激励线圈和检测线圈。

8.根据权利要求7所述的基于峰值法磁通门技术的探测磁致应变量的探头,其特征在于上述检测线圈胶管能自由水平移动的这一端通过连接件与磁控形状记忆合金连接。

9.根据权利要求8所述的基于峰值法磁通门技术的探测磁致应变量的探头,其特征在于上述固定件是半径为3mm、长度为3mm的透明塑料胶管，用粘合剂固定于基板上。

10.一种基于峰值法磁通门技术的探测磁致应变量的探头的制造方法，其特征在于包括如下步骤：

1）在基板的两边固定两个固定件；

2）将绕制了漆包铜线的激励线圈胶管的一端和绕制了漆包铜线的检测线圈胶管的一端分别穿插入两个固定件中，并将激励线圈胶管固定在固定件上；

3）再将磁芯主轴的两端穿插入激励线圈胶管的另一端和检测线圈胶管的另一端中，并使磁芯主轴的一端与激励线圈胶管粘合；

4）将检测线圈胶管与磁控形状记忆合金相连接，并且检测线圈胶管伴随磁控形状记忆合金的磁致应变能水平自由移动。