[发明专利]液晶滴注系统及控制方法

说明书

技术领域

本发明涉及液晶面板制造技术领域，并且特别地涉及一种用于制造液晶面板的液晶滴注系统及相关的控制方法。

背景技术

TFT-LCD基板主要包括彩膜(CF)基板和薄膜晶体管(TFT)基板，两个基板采用封框胶(Sealant)在贴合工艺段将四周粘合，同时封框胶封住盒内液晶，从而形成液晶面板。目前，较为常用的液晶注入工艺为液晶滴注工艺(OneDropFilling，简称ODF)。通常，液晶滴注量的基准值可在理论上通过计算得出，在考虑膜层厚度、彩膜侧感光间隙材料(PhotoSpacer，简称PS)高度、和对盒后的盒厚等关键参数后，制作计算基准值±6％范围内的多个不同的液晶量(LCSplit)，在经过LCMargin评价实验判定最终的中心液晶量及液晶量的可变范围(受工艺正常波动的影响)。

例如，图1示出了一种根据现有技术的用于液晶滴注系统的控制方法的示例性流程图。如图所示，开始后，通过液晶滴注工艺获得液晶面板(步骤101)，然后对所获得的液晶面板进行目视检查(通常在暗室中进行)(步骤102)，通过检查判断封框胶是否断裂、液晶是否未充满、是否存在外观不良等通过目视检查即可的缺陷(步骤103)。确定液晶面板合格之后，检查程序结束，液晶面板被送入之后的有关流程；如果确定液晶面板存在相应的缺陷，可根据缺陷的严重程度决定如何处置该液晶面板，例如，回收或抛弃等，然后检查程序结束。在确定液晶面板因为工艺(例如，液晶滴注量、液晶滴注精度、液晶图案等)而产生不良，则如上文所述进行复杂的LCMargin实验重新确定相关工艺参数(步骤104)，然后根据实验确定的参数调整ODF工艺的参数。

上述确定中心液晶量的方式存在诸多弊端：1)基准值为计算所得，计算中无法考虑工程波动导致的盒厚差异(例如，膜厚均匀性差异、Fan-out区体积差异等)；2)生产过程无有效监控液晶滴下量机制，LCmargin实验后方可判定液晶量是否合适，如此会导致评价周期过长，LCSplit数量过多等问题。

另外，当前的液晶滴注工艺缺少对于诸如周边发黄、漏光等周边缺陷的检查机制，无法在产品完全制成前进行先期检查，因此容易造成材料和资金的浪费。

发明内容

本发明的目的在于提供一种新型的液晶滴注系统，其包括对于液晶滴注工艺过程中产生的缺陷进行有效检查的检查系统，从而能够早期发现各种缺陷，并及时对液晶滴注工艺进行调整，从而节约时间和成本。

根据本发明的一个方面，提供了一种液晶滴注系统。

根据示例性的实施例，液晶滴注系统包括：液晶滴注设备，其配置为执行液晶滴注工艺以获得液晶面板；图像采集设备，其配置为获取液晶面板的图像；图像处理器，其配置为对获取的图像进行处理，并基于处理后的图像确定液晶面板的缺陷；和通信模块，其配置为将与图像处理器确定的缺陷相关的信息发送给液晶滴注设备，使得液晶滴注设备能够根据所述信息调整液晶滴注工艺的参数。

根据示例性的实施例，图像处理器进一步配置为：将获取的液晶面板的图像转化为灰阶图像。

根据示例性的实施例，图像处理器进一步配置为：识别灰阶图像中各像素的灰阶值，并且将所述灰阶图像中将灰阶值落入预定范围内的区域识别为正常区域，将灰阶值超出所述预定范围内的区域识别为缺陷区域。

根据示例性的实施例，图像处理器进一步配置为：根据缺陷区域的灰阶值确定缺陷的类型。

根据进一步的实施例，图像处理器配置为：将缺陷区域中的灰阶值落入第一灰度值范围内的区域识别为过充满缺陷区域；将缺陷区域中的灰阶值落入第二灰度值范围内的区域识别为周边发黄缺陷区域；和/或将缺陷区域中的灰阶值落入第三灰度值范围内的区域识别为漏光缺陷区域。

根据示例性的实施例，图像处理器配置为执行以下项目中的一种或多种：计算缺陷区域的灰阶值与正常区域的灰阶值之差；计算每个缺陷区域的面积；计算每个缺陷区域的面积与液晶面板的面积之比；以及确定每个缺陷区域在液晶面板上的位置。

根据进一步的实施例，图像处理器配置为：依据缺陷区域的灰阶值与正常区域的灰阶值之差、缺陷区域的面积、缺陷区域的面积与液晶面板的面积之比、缺陷区域在液晶面板上的位置中的至少一项确定每个缺陷区域的缺陷严重等级和/或液晶面板的质量等级。

根据示例性的实施例，通信模块进一步配置为：将图像处理器确定的缺陷等级、液晶面板的质量等级、以及相应的确定依据通知操作人员；和/或将所述确定依据发送到液晶滴注设备。

本发明的另一方面，提供了一种液晶滴注系统的控制方法