[发明专利]一种地球化学样品中痕量金、银、钯同时测定的方法在审
申请号: | 201510551056.0 | 申请日: | 2015-08-31 |
公开(公告)号: | CN105116045A | 公开(公告)日: | 2015-12-02 |
发明(设计)人: | 刘向磊;文田耀;孙文军;詹晓军;张维;王腾飞;李永新 | 申请(专利权)人: | 刘向磊;文田耀;孙文军 |
主分类号: | G01N27/62 | 分类号: | G01N27/62 |
代理公司: | 洛阳市凯旋专利事务所 41112 | 代理人: | 蔡佳宁 |
地址: | 471000 河南*** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 地球化学 样品 痕量 同时 测定 方法 | ||
技术领域
本发明属于分析化学技术领域,尤其是涉及一种地球化学样品中痕量金、银、钯同时测定的方法。
背景技术
已知的,金、银和钯地球化学元素丰度,在大陆地壳上部约为0.74ppb、0.055ppm和0.43ppb,土壤里约为1.4ppb、0.080ppm和0.65ppb,金、银、钯都属于痕量元素,准确测定比较困难。目前,地球化学样品中金主要采用发射光谱法(AES)、聚氨酯泡塑富集—石墨炉原子吸收法(GF-AAS)和聚氨酯泡塑富集—电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)测定。银和钯的检测方法主要以发射光谱和石墨炉原子吸收法为主,采用两种方法测定银,取样量都较少(<0.25g),无法克服地球化学银的“粒金效应”,样品代表性差,且传统发射光谱法不能进行自动化检测,测定结果的精密度和准确度都很差。国标GB/T17418.6-1998提供了一种火(铅)试金富集—发射光谱法测定地球化学样品中金和钯的分析方法,该法虽然克服了样品取样量少的问题,但是在950℃熔融得到含贵金属的铅扣过程中,不但引入银,而且大量使用试剂,造成试剂空白值高、且操作繁琐、成本高、分析效率低。国标GB/T20127.1-2006和国标GB/T17418.3-2010分别提供了一种石墨炉原子吸收法测定痕量银和钯的方法,石墨炉原子吸收法虽然能够实现自动化检测,但是只能进行单元素分析,不能实现多元素同时检测,且石墨炉原子吸收法进样量少(<40μL)、不连续,测试结果不稳定,另外,测试过程中,经过蒸发-灰化-原子化-净化等样品升温测试程序时间长。采用国标GB/T17418.3-2010测定钯,需要大量使用有毒有害试剂、多次高温熔融、样品前处理对分析人员要求高、分析效率很低。两种国标方法都不能满足当前对地球化学样品测试提出的多元素、大批量、效率高、速度快的分析要求。
ICP-MS具有检出限低、灵敏度高、稳定连续进样、多元素自动化检测、分析速度快等优点,非常适合目前地球化学样品分析的特点。但是,由于应用ICP-MS测定地球化学样品中银和钯时,银的两个同位素107Ag和109Ag及钯的两个高丰度的同质异位素105Pd和106Pd,分别易受到元素丰度是银和钯上百倍甚至千倍的主要干扰元素Zr、Nb、Y等的氧化物和结合物90Zr17O、91Zr16O、89Y17O1H、89Y18O、90Zr16O1H和91Zr18O、93Nb16O、90Zr18O1H、91Zr17O1H及16O89Y、12C+93Nb、14N+91Zr和89Y16O1H、90Zr16O、12C94Zr、14N92Zr、13C93Nb等的质谱干扰,严重干扰银和钯测定结果的准确性,即使使用干扰校正方程,也无法解决复杂的多原子离子对银和钯的干扰问题。
现有技术中,有关采用硫脲树脂富集—ICP-MS测定地质样品中痕量金、银、铂、钯的方法报道。但该方法未对银和钯的主要质谱干扰元素Zr、Nb、Y等实施分离或进行干扰校正,测定结果的准确度不确定;另外,采用树脂富集方法,单次样品处理数量有限,相对负载泡塑富集,分析效率低、成本高。目前,采用一种负载泡塑选择性地富集金、银、钯,而分离其他主要质谱干扰元素,ICP-MS直接测定地球化学样品中痕量金、银、钯的方法,还未见有文献报道。
发明内容
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