[发明专利]非线性厚光子学材料的光学非线性测量装置及测量方法

权利要求书

1.一种非线性厚光子学材料的光学非线性测量装置，其特征在于：包括入射光路、测量光路、监测光路、衰减器(13)、CCD探测器(14)和计算机(15)，所述入射光路包括依次设置的可调能量激光器(1)、二分之一波片(2)、偏振片(3)、透镜I(4)、透镜II(5)、小孔I(6)和分束器(7)，所述可调能量激光器(1)产生的入射激光依次经二分之一波片(2)、偏振片(3)、透镜I(4)、透镜II(5)、小孔I(6)和分束器(7)后由分束器(7)分成两束激光，其中一束激光作为测量光进入测量光路，另一束激光作为监测光进入监测光路；所述测量光路包括依次设置的透镜III(9)、电动平移台(11)和小孔II(12)，所述电动平移台(11)上放置有可沿Z方向移动的待测样品(10)或参考标准样品，所述测量光依次经透镜III(9)、待测样品(10)或参考标准样品、小孔II(12)后从小孔II(12)中射出测量光路；所述监测光路包括反射镜(8)，所述监测光经反射镜(8)反射后射出监测光路；经测量光路射出的测量光和经监测光路射出的监测光均通过衰减器(13)入射至同一CCD探测器(14)并在CCD探测器(14)上得到一系列测量光斑和监测光斑；所述CCD探测器(14)与计算机(15)电连接，所述CCD探测器(14)上得到的测量光斑和监测光斑传输至计算机(15)。

2.如权利要求1所述的非线性厚光子学材料的光学非线性测量装置，其特征在于：所述分束器(7)的透过率和反射率均为50％。

3.如权利要求1所述的非线性厚光子学材料的光学非线性测量装置，其特征在于：所述测量光路中的测量光与监测光路中经反射镜(8)反射后的监测光相互平行。

4.如权利要求1所述的非线性厚光子学材料的光学非线性测量装置，其特征在于：所述电动平移台(11)的移动范围为-5z₀～+5z₀，其中z₀为入射激光光束自由空间的瑞利长度。

5.如权利要求1所述的非线性厚光子学材料的光学非线性测量装置，其特征在于：所述小孔II(12)设置在待测样品(10)的远场位置，且所述小孔II(12)的孔径的尺寸与入射激光远场衍射光斑的尺寸相同。