[发明专利]用于热分析的设备和方法

权利要求书

1.一种用于热分析的设备，包括：

一对样品容器组合件套件，所述样品容器组合件套件包括第一样品容器组合件和第二样品容器组合件，每个组合件包括样品容器和散热器；在每个组合件中，使用具有预定热阻的构件连接所述样品容器和所述散热器；

加热元件，所述加热元件用于等量地加热所述一对样品容器组合件套件；

温度控制单元，所述温度控制单元用于控制所述加热元件的温度；

重量测量单元，所述重量测量单元用于测量在所述第一样品容器组合件的样品容器中的样品和在所述第二样品容器组合件的样品容器中的标准物质之间的重量差；以及

温度测量单元，所述温度测量单元用于测量在样品和标准物质之间的温度差，

其中，当使用所述温度控制单元改变所述加热元件的温度时，测量所述重量差和所述温度差。

2.根据权利要求1所述的用于热分析的设备，其中所述温度测量单元包括：

由第一金属制造的热电偶元件，其连接到所述样品容器和所述散热器；以及

由第二金属制造的热电偶元件，其连接到所述样品容器，

其中具有热阻的所述构件是由所述第二金属制造的构件。

3.根据权利要求2所述的用于热分析的设备，其中所述第一金属是铂，并且所述第二金属是铂铑合金。

4.根据权利要求2所述的用于热分析的设备，其中所述第一金属是铂铑合金，并且所述第二金属是铂。

5.根据权利要求1至4中的任一项所述的用于热分析的设备，其中所述加热元件为圆柱形，并且所述第一样品容器组合件的样品容器和所述第二样品容器组合件的样品容器相对于圆柱形的中心轴线放置在对称位置处。

6.根据权利要求5所述的用于热分析的设备，其中所述加热元件为圆柱形，并且所述第一样品容器组合件的散热器和所述第二样品容器组合件的散热器相对于圆柱形的中心轴线放置在对称位置处。

7.根据权利要求5所述的用于热分析的设备，其中所述样品容器和所述散热器都与圆柱形的中心轴线等距地放置。

8.根据权利要求1至4中的任一项所述的用于热分析的设备，其中所述散热器与所述样品容器放置在相同的高度上。

9.根据权利要求1至4中的任一项所述的用于热分析的设备，其中所述第一样品容器组合件的样品容器是与所述第一样品容器组合件的散热器的中心轴线共轴地放置，并且所述第二样品容器组合件的样品容器与所述第二样品容器组合件的散热器的中心轴线共轴地放置。

10.根据权利要求1至4中的任一项所述的用于热分析的设备，其中所述散热器具有的热容等于或者大于所述样品容器的热容的两倍。

11.根据权利要求1至4中的任一项所述的用于热分析的设备，其中所述重量测量单元是配置成测量在所述样品容器组合件之间的重量差的天平。

12.一种使用用于热分析的设备进行热分析的方法，包括：

一对样品容器组合件套件，所述样品容器组合件套件包括第一样品容器组合件和第二样品容器组合件，每个组合件包括样品容器和散热器；在每个组合件中，使用具有预定热阻的构件连接所述样品容器和所述散热器；以及

加热元件，所述加热元件用于等量地加热所述第一样品容器组合件和所述第二样品容器组合件，

其中所述方法包括以下步骤：

当所述加热元件的温度改变时，测量在所述第一样品容器组合件的样品容器中的样品和所述第二样品容器组合件的样品容器中的标准物质之间的重量差；以及

当测量所述重量差的同时，测量在所述样品和所述标准物质之间的温度差。