[发明专利]用于电输运测量的电连接装置有效
申请号: | 201510408312.0 | 申请日: | 2015-07-13 |
公开(公告)号: | CN105092910B | 公开(公告)日: | 2018-11-02 |
发明(设计)人: | 袁洁;冯中沛;金魁;于和善 | 申请(专利权)人: | 中国科学院物理研究所 |
主分类号: | G01R1/073 | 分类号: | G01R1/073 |
代理公司: | 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 | 代理人: | 蔡纯;刘锋 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 输运 测量 连接 装置 | ||
公开了一种电连接装置,包括:探针座,具有至少一组第一安装孔和第二安装孔,至少一组第一安装孔贯穿探针座,用于安装至少一组探针,至少一组探针分别包括多个探针;承载片,承载片上包括至少一个样品槽,用于放置待测样品;以及基座,基座具有由隔板彼此隔开的第三安装孔和第一槽,第三安装孔用于容纳探针座,第一槽用于容纳承载片,底托,底托限定第一槽的下表面,其中,隔板具有至少一个贯穿孔,使得在将探针座和承载片安装在基座上时,至少一组探针分别经由至少一个贯穿孔中的相应一个到达承载片上的样品表面。该电连接装置可以提高测量的便利性、可靠性以及实现样品的局部特性的测量。
技术领域
本发明涉及电输运测量测量技术,更具体地,涉及用于电输运测量的电连接装置。
背景技术
在材料科学和凝聚态物理等研究中,电输运特性是材料的重要性质。电输运测量系统能对材料进行电输运性质测量,所述电输运性质测量包括霍尔效应测量、磁阻测量、不同磁场和不同温度下的I-V特性测量、R-T(固定磁场,电阻随着温度变化的特性)特性测量和R-H(固定温度,电阻随着磁场变化的特性)特性测量等。
多功能电输运测量系统通常包括位于样品室中的样品以及位于样品室外部的测量仪器。在测量时,测量室置于存贮液氮或液氦获得的低温容器(例如杜瓦)中。低温容器与加热装置相结合,使得样品的环境温度例如可以在1.8K至400K之间变化。在样品室中或外部,还可以配置磁体(例如超导磁体),使得样品的环境磁场例如在-14T至14T之间变化。
例如,样品室是位于样品杆顶端的用于放置样品的空间。样品室中包括承载片。将样品固定在承载片上,然后经由穿过样品杆的多根导线,将样品与测量仪器相连接。在测量时,将样品杆插入低温容器中。测量仪器经由导线提供驱动信号和获得感测信号。
在现有的多功能电输运测量系统中,采用焊料或银胶将导线与样品电连接。由于焊接和粘接均需要一定的键合面积,因此在样品上难以布置多组导线。该电连接方法不能获得和比较样品表面的局部特性。此外,在测量时操作繁琐,焊接和粘接需要操作人员具有一定的技巧,否则可能由于虚焊等导致接触不良,影响测量结果的准确性。在测量多个样品的情形下,由于每次都需要焊接或粘接导线而导致测量效率低。
因此,期望进一步改善用于电输运测量的电连接装置的便利性、可靠性、以及实现样品的局部特性的测量。
发明内容
有鉴于此,本发明提出了一种用于电输运测量的电连接装置。
根据本发明的实施例,提供一种用于电输运测量的电连接装置,包括:探针座,所述探针座具有至少一组第一安装孔和第二安装孔,所述至少一组第一安装孔贯穿所述探针座,用于安装至少一组探针,所述至少一组探针分别包括多个探针;承载片,所述承载片上包括至少一个样品槽,用于放置待测样品;以及基座,所述基座具有由隔板彼此隔开的第三安装孔和第一槽,所述第三安装孔用于容纳所述探针座,所述第一槽用于容纳所述承载片,其中,所述隔板具有至少一个贯穿孔,使得在将所述探针座和所述承载片安装在所述基座上时,所述至少一组探针分别经由所述至少一个贯穿孔中的相应一个到达所述承载片上的样品表面。
优选地,所述电连接装置还包括底托,所述底托限定所述第一槽的下表面,使得承载片经由所述第一槽位于基座的侧壁的开口进出。
优选地,所述至少一组第一安装孔分别包括不同直径的第一部分和第二部分,与所述至少一组探针的相应部分的直径匹配,从而限定所述至少一组探针沿径向的位置。
优选地,所述探针座的所述第二安装孔包括位于所述探针座的一个表面上的开口、以及封闭端部,所述基座的所述第三安装孔包括位于隔板上表面的柱体,所述柱体从隔板向上延伸,所述柱体的直径与所述第二安装孔的直径匹配,以及在将所述探针座安装在所述基座上时,所述柱体的顶端与所述第二安装孔端部接触,从而限定所述探针座的位置,使得所述至少一组探针到达接触样品表面的合适位置
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