[发明专利]一种图像水印检测方法

权利要求书

1.一种图像水印检测方法，其特征在于，包括：

步骤一，提取待检测图像中包含的水印信号，作为第一水印信号；

步骤二，对所述第一水印信号进行自相关函数计算，以生成自相关函数图像，其中，根据如下表达式对所述第一水印信号进行自相关函数计算，以生成自相关函数图像：

式中，I表示对第一水印信号进行周期性拓展而生成的图像；

x，y分别表示图像I的宽方向的坐标值和高方向的坐标值；

M，N分别表示图像I的宽和高，与待检测图像的宽和高相等；

u，v分别表示自相关函数的宽方向的坐标值和高方向的坐标值；

其中，x，u＝1…M；y，v＝1…N；

步骤三，将参考布局信息与所述自相关函数图像分别映射到对数极坐标系中，获得使得二者线性相关值最大的最大坐标点，其中，

根据如下表达式对所述参考布局信息与所述自相关函数图像的笛卡尔坐标系点P(x,y)分别进行映射：

式中，(r,θ)分别表示对数极坐标的极径与极角，M_c为常数；

步骤四，根据所述最大坐标点的坐标值，对待检测图像进行恢复以得到校正图像；以及

步骤五，基于在所述校正图像中各与基准水印模板所构成的图像形状大小相一致的区域、与基准水印模板之间的各相关值中的最大相关值，判断所述最大相关值是否大于预设阈值，并根据判断结果判断该校正图像中是否包含基准水印信号，

其中，

所述参考布局信息是在图像的水印信号嵌入过程中附加至图像的具有设定规则的信息；

按如下表达式计算最大相关值：

其中，W_r(x,y)表示基准水印模板，是由L个调制块组成，W_r(x,y)＝(w_r[1],...,w_r[i],...,w_r[L])，w_r[i]表示第i个调制块；B_c(x,y)表示中心区域，对应于基准水印模板，也由相应的L个元素组成，B_c(x,y)＝(B[1],...,B[i],...,B[L])，其中B[i]是中心区域的对应于第i个调制块的区域；p(x,y)表示校正图像的点；*_m表示卷积操作的一种变型，*这里表示卷积操作。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述步骤一中，

将所述待检测图像的灰度直方图均衡化，获得均衡化图像；以及

基于所述均衡化图像提取所述待检测图像中包含的所述第一水印信号。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述步骤一中，

通过对所述均衡化图像进行预测滤波来获取所述待检测图像中的高频率部分，作为第一水印信号。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，

通过高斯高通滤波器或巴特沃斯高通滤波器来进行预测滤波。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

若判断出所述校正图像含有基准水印信号，则获取校正图像中的水印信号并对其进行解码输出。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的方法，其特征在于，

在所述步骤三中，对所述参考布局信息与所述自相关函数图像的映射结果进行匹配滤波以获得使得二者的线性相关值最大的最大坐标点。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，

根据所述最大坐标点的坐标值来获得用于表征所述待检测图像受到的几何攻击的几何攻击参数，利用所述几何攻击参数对待检测图像进行恢复以得到校正图像。