[发明专利]一种基于声光滤光和电光相位调谐的高光谱全偏振成像仪

说明书

技术领域

本发明涉及高光谱成像仪技术领域，具体涉及一种基于声光滤光和电光相位调谐的高光谱全偏振成像仪，是一种高光谱成像与全偏振成像相结合的成像装置，涉及对观测目标的空间、光谱和偏振信息同时探测获取的方法。

背景技术

光谱偏振成像技术是对光谱成像技术和偏振成像技术的综合。光谱偏振成像能够同时获取目标的空间、光谱和偏振信息，对目标的几何形影特征，辐射、反射、散射和透射电磁波的光谱特征，表面粗糙度、致密度、电导率、含水量等材料理化特征进行融合感知，进而深层次地对目标实现评估、分类和识别。光谱偏振成像技术在深空探测，地球资源勘查，环境监测，军事目标识别，生物医学成像和食品安全等领域已经取得了初步的应用，并且在这些方面的应用价值和前景受到国内外科研机构的重视。

目前，根据光谱偏振成像方式的不同，光谱偏振成像技术主要分为色散元件加偏振元件型、新型偏振干涉成像光谱型和滤光元件加偏振元件型三类。色散元件主要是棱镜和光栅，偏振元件主要是偏振片和相位调制器，滤光元件主要是滤光片和可调谐滤光器。（1）对于光谱成像技术来说，色散型成像光谱的光谱分辨率和空间分辨本领因受到狭缝宽度的制约，限制了进入系统的光通量，从而降低了光谱成像的信噪比；滤光片型需旋转滤光片，并且提供波段数有限，光谱分辨率低。（2）对于偏振成像来说，偏振片型需旋转偏振片，并且只能探测到线偏振光，即Stokes参量的前三个分量；新型偏振干涉成像光谱技术能够同时获得全偏振光谱，但需仪器与探测目标的相对运动，推扫完成目标干涉图的获取，目标图像复原相当复杂和困难，条带噪声严重，空间分辨率较低。

发明内容

有鉴于此，本发明旨在解决现阶段光谱偏振成像遇到的技术难题，提供一种基于声光滤光和电光相位调谐的高光谱全偏振成像仪。该光谱偏振成像仪基于声光可调谐滤光器实现分光和DKDP纵向电光相位调制器实现偏振探测。

为了解决上述技术问题，本发明采用的技术方案为：

一种基于声光滤光和电光相位调谐的高光谱全偏振成像仪，包括：

前置成像镜头，对被测目标辐射、反射、散射和透射光进行收集准直缩束，整形为近似平行光，并一次成像于AOTF；

DKDP纵向电光相位调制器，设置为两个，分别为第一DKDP纵向电光相位调制器和第二DKDP纵向电光相位调制器，依次设置于前置成像镜头和AOTF之间，进行相位调谐，所述DKDP纵向电光相位调制器通过直流高压驱动电路与控制计算机连接；

AOTF，进行滤光和检偏，所述AOTF通过射频驱动电路与控制计算机连接；

遮光板，将通过AOTF的0级和+1级衍射光遮挡；

二次成像传导镜头，将-1级衍射光二次成像于面阵列成像CCD上；

控制计算机，同时控制DKDP纵向电光相位调制器的直流高压驱动电路，AOTF的射频驱动电路和面阵列成像CCD，并且对DKDP纵向电光相位调制器施加每组相位延迟的同时触发面阵列成像CCD采集一次图像，控制计算机采集，处理并存储图像。

所述前置成像镜头包括成像物镜、视场光阑和准直镜。

所述DKDP纵向电光相位调制器选用电光系数大、半波电压低的z切割DKDP晶片制成纵向Pockels盒，沿光轴z通光，通光面镀置氧化铟锡透明电极，晶片切割为圆形晶片，保证给两通光面的透明电极施加电压时，在整个有效通光孔径内沿通光方向（光轴z方向）形成均匀的电场。

所述DKDP纵向电光相位调制器的驱动电路为直流高压驱动电路，输出电压幅值范围为0~15kv，并且驱动输出电压由控制计算机编程可调，通过调节驱动电压使DKDP纵向电光相位调制器对AOTF工作输出波长的光分别能够实现0，π/2和π的相位延迟。

所述AOTF的声光互作用晶体选用氧化碲晶体，x切铌酸锂晶片作为压电换能器，入射光沿氧化碲晶体[001]方向，超声波沿氧化碲晶体[110]方向传播，所述声光互作用晶体通光面切割时采用光楔设计，对-1级衍射光消除了色差，工作波长范围：0.4~2μm，压电换能器工作频率：60~130~220MHz，光谱分辨率10nm。

所述射频驱动电路工作频率：60~130~220MHz，驱动功率范围：0~2W，所述射频驱动电路的工作频率与AOTF的衍射光波长一一对应，所述射频驱动电路具有单频和扫频两种工作模式，且工作频率或扫频的频率间隔及时间间隔均可由控制计算机编程控制。

所述AOTF衍射的-1级光为偏振方向沿x轴的偏振光，所述DKDP纵向电光相位调制器的调制快轴方向相对于AOTF的-1级衍射光偏振方向分别取0°和45°。