[发明专利]IP功能模块的替换方法

说明书

技术领域

本发明涉及集成电路制造设备技术领域，尤其是一种IP功能模块的替换方法。

背景技术

在半导体集成电路(Integrated Circuit，IC)的制造过程中，需要对IP功能模块在不同工艺制程的芯片上进行转换和对接，现有技术中，主要是依靠人工目视对比及手工逐层画版图来实现。

利用人工目视的方式实现IP功能模块的转换和对接，耗费大量的人工和时间，一般情况下，可能需要三个版图工程师全职工作三个月才能完成一次，效率低下。而且错误率高，良率低，不能及时并正确有效的实现芯片上IP功能模块的更换。

发明内容

本发明的目的在于提供一种IP功能模块的替换方法，以解决现有技术中人工操作而造成的效率低、良率低的问题。

为了达到上述目的，本发明提供了一种IP功能模块的替换方法，包括以下步骤：

将一芯片上的第一IP功能模块的基本单元图形按照所述基本单元图形的形状和功能属性进行分类，并建立所述第一IP功能模块的所述基本单元图形和所述基本单元图形的功能名称的第一映射表；

将第二IP功能模块的基本单元图形按照所述第一IP功能模块的基本单元图形的形状和功能属性进行分类，并建立所述第二IP功能模块的所述基本单元图形和所述基本单元图形的功能名称的第二映射表；

用所述第二映射表替换所述第一映射表，实现用所述第二IP功能模块替换所述芯片上的所述第一IP功能模块。

优选的，在上述的IP功能模块的替换方法中，将一芯片上的第一IP功能模块的基本单元图形按照所述基本单元图形的功能属性进行分类，并建立所述第一IP功能模块的所述基本单元图形和所述基本单元图形的功能名称的第一映射表的步骤包括：

将所述第一IP功能模块分解为基本单元图形；

提取所述第一IP功能模块的所有基本单元图形边框的尺寸；

根据提取所得的所述基本单元图形边框的尺寸对所述基本单元图形进行第一次分类；

对经过第一分类后同一类型的基本单元图形进行第二次分类。

优选的，在上述的IP功能模块的替换方法中，根据提取所得的所述基本单元图形边框的尺寸对所述基本单元图形进行第一次分类的步骤包括：

将尺寸相同的所述基本单元图形归为一类。

优选的，在上述的IP功能模块的替换方法中，对经过第一分类后同一类型的基本单元图形进行第二次分类的步骤包括：

对同一类型中的所有基本单元图形进行一一比对，将形状完全相同的基本单元图形归为一类；

根据每一类基本单元图形的功能属性直至所述第二次分类的每一类别中所包含的基本单元都具有相同的尺寸和功能属性为止，并建立该类基本单元图形和该类基本单元图形的功能名称的第一映射表。

优选的，在上述的IP功能模块的替换方法中，将第二IP功能模块的基本单元图形按照所述第一IP功能模块的基本单元图形的功能属性进行分类，并建立所述第二IP功能模块的所述基本单元图形和所述基本单元图形的功能名称的第二映射表的步骤包括：

将所述第二IP功能模块分解为基本单元图形；

提取所述第二IP功能模块的所有基本单元图形边框的尺寸；

根据提取所得的所述基本单元图形边框的尺寸对所述基本单元图形进行第一次分类；

对经过第一分类后同一类型的基本单元图形进行第二次分类。

优选的，在上述的IP功能模块的替换方法中，根据提取所得的所述基本单元图形边框的尺寸对所述基本单元图形进行第一次分类的步骤包括：

将尺寸相同的所述基本单元图形归为一类。

优选的，在上述的IP功能模块的替换方法中，对经过第一分类后同一类型的基本单元图形进行第二次分类的步骤包括：

对同一类型中的所有基本单元图形进行一一比对，将形状完全相同的基本单元图形归为一类；

根据每一类基本单元图形的功能属性，直至所述第二次分类的每一类别中所包含的基本单元都具有相同的尺寸和功能属性为止，并建立该类基本单元图形和该类基本单元图形的功能名称的第二映射表。

优选的，在上述的IP功能模块的替换方法中，所述IP功能模块的替换方法还包括：

优化所述芯片上的所述第二IP功能模块接口的金属互连线。

优选的，在上述的IP功能模块的替换方法中，所述IP功能模块的替换方法还包括：

对所述芯片进行检查和修复。

优选的，在上述的IP功能模块的替换方法中，对所述芯片进行检查和修复的步骤包括：