[发明专利]记忆体驱动电路有效

专利信息
申请号: 201510181486.8 申请日: 2015-04-16
公开(公告)号: CN104821179B 公开(公告)日: 2017-09-26
发明(设计)人: 张家璜;简汎宇;吴瑞仁;黄圣财 申请(专利权)人: 江苏时代全芯存储科技有限公司;英属维京群岛商时代全芯科技有限公司
主分类号: G11C11/16 分类号: G11C11/16;G11C11/56;G11C13/00
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司11006 代理人: 徐金国
地址: 223001 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 记忆体 驱动 电路
【说明书】:

技术领域

发明是关于一种记忆体的驱动电路,特别是关于一种用以写入一种忆阻性记忆体的驱动电路。

背景技术

现有的记忆体技术,如动态随机存取记忆体(DRAM)以及静态随机存取记忆体(SRAM)等等的发展渐趋成熟,快速面临到尺度上的物理极限。因此,发展新的记忆体技术以符合未来记忆体应用为目前相关领域重要的研发课题,其中忆阻性记忆体包含相变化记忆体(Phase change memory,PCM)、电阻式记忆体(Resistive Memory,RRAM)及磁阻性记忆体(Magnetoresistive memory,MRAM),其存储数据的物理机制不同,但判读“1”或“0”的数据是以记忆元件外显的电阻值大小来区分。其中相变化记忆体可通过本身材料的晶相变化改变元件电阻值,以电阻值的变化储存信息,当记忆元件中的材料为结晶态时,其呈现低电阻值,反之,当为非结晶态时,其呈现高电阻值。

然而,忆阻性记忆体须透过相应的驱动电流以执行写入或抹除的操作,因此,如何能在设计出适用于忆阻性记忆体的驱动电路,实属当前重要研发课题之一,亦成为当前相关领域极需改进的目标。

发明内容

为了解决上述的问题,本发明的一方面为一种记忆体驱动电路。记忆体驱动电路包含电流源、第一开关单元、电压产生单元、电容性储能单元、第二开关单元、第三开关单元以及电流输出端。电流源用以输出第二电流。第一开关单元用以选择性地导通电流源以输出第二电流。电压产生单元用以提供参考电压。电容性储能单元用以根据参考电压储能。第三开关单元用以选择性地导通电压产生单元与电容性储能单元。第二开关单元用以选择性地导通电容性储能单元以输出第三电流。电流输出端用以选择性输出第二电流、第三电流或第二电流与第三电流的加总。

在本发明一实施例中,记忆体驱动电路还包含记忆单元。记忆体驱动电路以电流输出端驱动记忆单元。

在本发明一实施例中,记忆单元包含相变化记忆体、电阻式记忆体,或磁阻性记忆体。

在本发明一实施例中,电流源包含电流镜电路。电流镜电路是根据第一电流输出相应的第二电流。

在本发明一实施例中,电压产生单元包含运算放大器。运算放大器的第一输入端电性连接至第一开关单元与电流输出端。运算放大器的第二输入端和输出端电性连接至第三开关单元。

在本发明一实施例中,电压产生单元包含电压电流源。电压电流源电性连接至第三开关单元。

在本发明一实施例中,记忆体驱动电路还包含补偿电阻单元,其与电容性储能单元以串联方式电性连接。补偿电阻单元用以调整第三电流的变化率。

在本发明一实施例中,补偿电阻单元包含第一端以及第二端。补偿电阻单元的第一端电性连接于第一开关单元。补偿电阻单元的第二端电性连接于电流输出端。

在本发明一实施例中,记忆体驱动电路还包含电流提供单元。电流提供单元电性连接于电容性储能单元,用以提供补偿电流或吸收电流以调整第三电流的变化率。

在本发明一实施例中,电流提供单元包含定电压源以及电阻单元。电阻单元的第一端电性连接至定电压源,电阻单元的第二端电性连接至电容性储能单元。

在本发明一实施例中,第三开关单元于第一开关单元导通期间内,第二开关单元导通前,选择任意期间导通,以使电压产生单元产生参考电压。当第二开关单元即将导通前,第三开关单元先行断开,且于第二开关单元导通期间,第三开关单元维持断开状态,据此电容性储能单元被储能至参考电压。

综上所述,本发明透过设置电容性储能元件以及开关单元的切换控制,可简单地调整驱动电流于最大输出阶段及慢速变化阶段中的电流大小以及电流变化率,改善了以多个电流镜电路达到步级方式调整驱动电流所造成的缺点,简化了记忆体驱动电路的设计架构。本发明的技术方案与现有技术相比具有明显的优点和有益效果。通过上述技术方案,可达到相当的技术进步,并具有产业上的广泛利用价值。

附图说明

图1为一种已知忆阻性记忆体驱动电路的示意图;

图2A~图2B分别为图1所示记忆体驱动电路于不同操作状态下输出驱动电流对时间变化的关系图;

图3为根据本发明一实施例所绘示的记忆体驱动电路的示意图;

图4A~图4B分别为根据本发明一实施例所绘示的记忆体驱动电路的操作示意图;

图5A~图5D分别是根据本发明一实施例的记忆体驱动电路所绘示的驱动电流对时间变化的关系图;

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