[发明专利]基于散射点和K中心一类分类器的SAR目标鉴别方法有效
申请号: | 201510112513.6 | 申请日: | 2015-03-14 |
公开(公告)号: | CN104680183B | 公开(公告)日: | 2018-07-24 |
发明(设计)人: | 杜兰;李汀立;李波;张维;王鹏辉;王英华 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | G06K9/62 | 分类号: | G06K9/62 |
代理公司: | 陕西电子工业专利中心 61205 | 代理人: | 王品华;张问芬 |
地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 散射 中心 一类 分类 sar 目标 鉴别方法 | ||
1.一种基于散射点和K中心一类分类器的SAR目标鉴别方法,包括:
(1)训练步骤:
(1a)对SAR图像I进行恒虚警检测,得到二值图像C,对该二值图像进行聚类,得到疑似目标区域,以疑似目标区域的重心为几何中心,截取m×n的切片xi,i=1,...,N,N是从SAR图像I中提取切片的总个数;
(1b)从切片{x1,x2,...,xi,...,xN}中选取包含真实目标的切片{y1,y2,...,yj,...,yQ}构成训练样本集,其中j=1,...,Q,Q≤N,Q是训练样本个数;
(1c)估计训练样本yj的信号能量比,以此为门限从训练样本yj中提取散射点矩阵Aj,并对散射点矩阵Aj的幅度进行2-范数归一,2-范数归一后的散射点矩阵记为A'j;
(1d)根据预先给定的中心个数K,K≤Q,用K中心一类分类器,将训练样本对应的散射点集{A'1,A'2,...,A'j,...,A'Q}聚为K簇,同时保存这K簇的中心
(1e)根据预先给定的拒判率P和K簇的中心计算K中心一类分类器的门限Thr,其中0≤P<1;
(2)测试步骤:
(2a)估计测试切片z的信号能量比,并依此为门限提取散射点矩阵B,对散射点矩阵B的幅度进行2-范数归一,2-范数归一后的散射点矩阵记为B';
(2b)计算测试样本的散射点矩阵B'与步骤(1e)得到的K簇的中心之间的最小双向Hausdorff距离dB;
(2c)将测试样本的散射点矩阵B'与K簇的中心之间的最小双向Hausdorff距离dB与步骤(1e)得到的K中心一类分类器的判决门限Thr进行比较,如果dB≤Thr,则测试样本z为目标,否则,测试样本z为杂波虚警。
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