[发明专利]一种磷、硼液态源一次全扩散工艺有效
申请号: | 201510105059.1 | 申请日: | 2015-03-11 |
公开(公告)号: | CN104766790B | 公开(公告)日: | 2017-12-19 |
发明(设计)人: | 丛培金;范玉丰;丛济洲 | 申请(专利权)人: | 苏州启澜功率电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/223 | 分类号: | H01L21/223 |
代理公司: | 无锡中瑞知识产权代理有限公司32259 | 代理人: | 孙高 |
地址: | 215612 江苏省苏州市张*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 液态 一次 扩散 工艺 | ||
1.一种磷、硼液态源一次全扩散工艺,其特征在于:包括如下步骤:
1)、硅片双面减薄:使用硝酸、氢氟酸、冰乙酸,按照3:1:1的比例对原始硅片进行双面腐蚀,去除表面损伤层;
2)、扩散前清洗:通过酸、碱、去离子水超声清洗工序,对硅片表面进行化学处理;
3)、涂硼源:在清洗后的硅片的表面均匀涂上硼源,所述硼源的浓度为1%~15%,纯度为99.9%;
4)、第一次烘烤:将涂硼源后的硅片进行烘烤,温度为60~80℃,时间为10分钟;
5)、涂磷源:在烘烤后的硅片的背面均匀涂上磷源,所述磷源的浓度为1%~20%,纯度为99.9%;
6)、第二次烘烤:将涂双面源后的硅片进行烘烤,温度为60~80℃,时间为20~40分钟;
7)、叠片、装舟:在涂硼源面撒少许硅粉,然后把硅片两两相对,即磷源面与磷源面,硼源面与硼源面相对叠在一起,竖立摆在硅舟上,并用硅块挤紧;
8)、扩散:将装舟的硅片在1270~1275℃进行扩散,形成扩散结;
9)、扩散后处理:用酸浸泡、去离子水超声清洗,使硅片分离,并去除表面氧化层。
2.根据权利要求1所述的一种磷、硼液态源一次全扩散工艺,其特征在于:所述步骤3)中,将硅片放置在旋转器上,将硼源滴在硅片的表面中心,启动旋转器使硅片旋转,旋转器的转速为3000~4000转/分钟。
3.根据权利要求1或2所述的一种磷、硼液态源一次全扩散工艺,其特征在于:所述步骤5)中,将硅片反过来放置在旋转器上,将磷源滴在硅片的背面中心,启动旋转器使硅片旋转,旋转器的转速为3000~4000转/分钟。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造