[发明专利]一种高转化效率抗PID晶体硅太阳能电池及其制造方法在审

专利信息
申请号: 201510095123.2 申请日: 2015-03-04
公开(公告)号: CN105280744A 公开(公告)日: 2016-01-27
发明(设计)人: 王子港;陈奕峰;崔艳峰 申请(专利权)人: 常州天合光能有限公司
主分类号: H01L31/068 分类号: H01L31/068;H01L31/0216;H01L31/18
代理公司: 浙江永鼎律师事务所 33233 代理人: 郭小丽
地址: 213031 江苏省常*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 转化 效率 pid 晶体 太阳能电池 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种高转化效率抗PID晶体硅太阳能电池,包括硅片(1),其特征在于:在所述硅片(1)正面依次设置有高折射率氮化硅钝化层(2),石墨烯导电层(3)和低折射率氮化硅减反层(4)。

2.根据权利要求1所述的高转化效率抗PID晶体硅太阳能电池,其特征在于:所述高折射率氮化硅钝化层(2)的折射率2.2~2.3,膜厚为1~10nm。

3.根据权利要求1所述的高转化效率抗PID晶体硅太阳能电池,其特征在于:所述石墨烯导电层(3)的厚度为1~10nm。

4.根据权利要求1所述的高转化效率抗PID晶体硅太阳能电池,其特征在于:低折射率氮化硅减反层(4)的折射率为2.0~2.1,膜厚为60~80nm。

5.一种制造权利要求1-4任一所述高转化效率抗PID晶体硅太阳能电池的方法,包括如下步骤:

(1)选取硅片,进行制绒、扩散及后清洗;

(2)硅片正面沉积高折射率氮化硅钝化层,折射率为2.2~2.3,膜厚为1~10nm;

(3)在氮化硅上面旋涂石墨烯的分散液,后续烘干,形成石墨烯导电层,厚度为1~10nm;

(4)在石墨烯层上沉积低折射率氮化硅减反层,折射率为2.0~2.1,膜厚为60~80nm;

(5)完成背电极、背电场、正电极印刷、烘干烧结,形成电池。

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