[发明专利]利用电磁引力的头-介质接触检测有效
申请号: | 201510080882.1 | 申请日: | 2015-02-15 |
公开(公告)号: | CN105006236B | 公开(公告)日: | 2018-06-12 |
发明(设计)人: | D·W·欧尔森;D·J·埃利森;M·T·约翰逊 | 申请(专利权)人: | 希捷科技有限公司 |
主分类号: | G11B5/187 | 分类号: | G11B5/187;G11B5/255 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 姬利永 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电磁引力 记录头 振荡 介质接触 热传感器 检测器 传感器信号 感测 电路 耦合 检测头 检测 配置 | ||
1.一种用于磁记录的装置,包括:
记录头,对记录介质具有电磁引力;
电路,配置成使所述记录头和所述记录介质之间的电磁引力振荡,其中振荡的电磁引力在所述记录头和所述记录介质之间产生相应的振荡的间隙;
位于所述记录头中或附近的热传感器,感测由所述振荡的间隙引发的振荡的温度并产生代表所感测的温度的传感器信号;以及
检测器,被耦合至所述热传感器并被配置成利用所述传感器信号和所述电磁引力来检测头-介质接触和间隙中的至少一个。
2.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述电磁引力是通过设置在所述记录头和/或所述记录介质处的电势来进行控制。
3.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述振荡的电磁引力具有基本上位于50kHz到400kHz的范围内的频率。
4.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述检测器被另行配置成检测与所述记录介质的半径和旋转两者有关的头-介质接触功率。
5.如权利要求1所述的装置,其特征在于,进一步包括耦合至所述检测器的控制器,所述控制器被配置成基于所检测的与所述记录介质的半径和旋转两者有关的头-介质接触功率而产生二维接触功率地图。
6.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述热传感器包括热电偶、单端电阻温度系数传感器、或双端电阻温度系数(DETCR)传感器。
7.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述记录头包括加热器,所述加热器经由热膨胀来改变头-介质间隙,其中所述振荡的电磁引力的响应时间比所述热膨胀的响应时间少至少50倍。
8.一种用于磁记录的装置,包括:
电路,配置成使记录头和记录介质之间的电磁引力振荡,其中振荡的电磁引力在所述记录头和所述记录介质之间产生相应的振荡的间隙;以及
控制器,被耦合至所述电路并且被配置成:
感测由所述振荡的间隙引发的振荡的温度;以及
利用所感测的温度和所述电磁引力来检测头-介质接触。
9.如权利要求8所述的装置,其特征在于,所述电路被另行配置成设置在所述记录头和/或记录介质处的电势,并且其中所述电势影响所述电磁引力。
10.如权利要求8所述的装置,其特征在于,振荡的电磁引力具有基本上在50kHz到400kHz的范围中的频率。
11.如权利要求8所述的装置,其特征在于,所述控制器被另行配置成检测与所述记录介质的半径和旋转两者有关的头-介质接触功率。
12.如权利要求8所述的装置,其特征在于,所述控制器被另行配置成基于所检测的与所述记录介质的半径和旋转两者有关的头-介质接触功率而产生二维接触功率地图。
13.如权利要求8所述的装置,其特征在于,所述振荡的温度由热传感器进行感测,所述热传感器包括双端电阻温度系数(DETCR)传感器、单端电阻温度系数传感器、或热电偶温度传感器。
14.如权利要求8所述的装置,其特征在于,所述记录头包括加热器,所述加热器经由热膨胀来改变头-介质间隙,其中所述振荡的电磁引力的响应时间比所述热膨胀的响应时间少至少50倍。
15.一种用于磁记录的方法,包括:
引起记录头和记录介质之间的电磁引力的振荡;
通过振荡的电磁引力来引起由在所述记录头中或附近的热传感器产生的信号中的振荡;以及
利用来自所述热传感器的信号和所述电磁引力来检测头-介质接触。
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